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三星在CSTIC 上解读7nm芯片解决方案

作者:时间:2017-03-14来源:半导体行业观察收藏

  近几年,由于材料和设备的限制,电子产业的金科玉律摩尔定律似乎逐渐走向了瓶颈。尤其是到了14nm之后,以往随着节点往前推进,Die Cost下降而Perforrmance提升的定律被打破,集成电路产业迎来了大挑战。但作为一个全球数一数二的IDM,为了继续延续摩尔定律,在由SEMI主办的中国国际半导体技术大会(CSTIC2017)上,给出了独到的见解。

本文引用地址:http://www.eepw.com.cn/article/201703/345180.htm

   

 

  因此厂商们需要针对不同的应用,在相同节点上开发出不同的方案:

   

 

  在14nm/10nm的情况下,开发者们还可以在现有的体系下做改进,但是进入到了,则对技术创新有了新的选择。需要从两方面创新:一是技术创新,也就是3D结构加patterning;另一种则是系统创新的ememory加packaging。

   

 

  三星认为,移动处理器虽然推动产业界向进展,但是由于物联网的存在和即将爆发,且这些产品对成本很敏感,因此28nm这个甜蜜节点将会存在很长一段时间。

   

 

  除了传统的28nm,三星认为28nmFD-SOI工艺因为其优势,会成为三星关注的一个重点。FD-SOI最大的亮点在于超低功耗,尤其是对比HKMG(后闸极,约50%+),如今物联网(IoT)、汽车等嵌入开发对芯片的这一特性非常敏感,ST、飞思卡尔等都明确表态支持且等待排片。

   

 

  之后的架构和材料的创新

  回到现在产业界正在紧盯的7nm工艺,三星认为它会在2018年到来,因为沟道变窄了,那就要求在在设计制备的时候需要从架构、沟道材料和工艺制备上进行创新,而GAA、三五族沟道材料和EUV光刻是对应的最好答案。

   

 

  在这里我们详细介绍一下GAA和三五族沟道材料:

  (1) Gate-all-around (GAA)

  GAA有时候被称作横向纳米线场效应管。这是一个周边环绕着 gate 的 FinFet 。GAA 晶体管能够提供比 FinFet 更好的静电特性,这个可满足某些栅极宽度的需求。

  从表面上看, GAA 和栅极夹杂在源极和漏极之间的 MOSFET 很类似。另外, GAA 同样包含了 Finfet ,但和目前 fin 是垂直使用的 Finfet 不同, GAA 的 Finfet 是在旁边。GAA Fet 包含了三个或者更多的纳米线,形成沟道的纳米线悬空且从源极跨到漏极。其尺寸是惊人的。 IMEC 最近介绍的一个 GAA fet 的纳米线只有 8nm 直径。

  控制电流流动的 HKMG 架构能够填补源极和漏极之间的差距。

  但是从 FinFet 向 GAA 的转变并不会有很大的优势,当中你只是获得了对晶体管静电性能控制的提升。GAA 最大的提升在于缩小了栅极宽度。这样你就可以得到一个全环绕和一点的静电性能的控制。当然, gate 的缩小是必不可少的。

  在GAA上,也分为两种方案,一种是水平的,它能够打破FinFET的限制。

   

 

  另一种是垂直的,能突破更多的物理限制。

   

 

  (2)三五族沟道材料

  沟道材料这一段时间以来一直是个热门的话题。沟道是一个连接MOS器件源与漏之间的一个导电区域。当一个MOSFET晶体管在导通时栅电容器加在沟道上的电压会产生一个反型层,使少数载流子在源与漏之间很快通过。反之则晶体管关闭。

  沟道材料中发生大的改变是在90纳米工艺,那时全球工业界开始引入应变硅材料。芯片制造商采用外延工艺在PMOS晶体管形成中集成了SiGe的应变硅,或者称让晶格结构发生畸变。这样可以通过增加空穴的迁移率来达到增大驱动电流。

  芯片制造商在10nm或者7nm工艺时沟道材料必须要作改变。在一段时间中曾认为首选是在PMOS中采用Ge,以及NMOS中采用InGaAs材料。因为Ge的电子迁移率可达3,900cm平方/Vs,而相比硅材料的为1,500cm,InGaAs的电子迁移率可达40,000cm平方/Vs。但是三五族沟道材料受到了厂商的更多关注。

  与硅相比,由于III-V化合物半导体拥有更大的能隙和更高的电子迁移率,因此新材料可以承受更高的工作温度和运行在更高的频率下。且没有明显的物理缺陷,而且跟目前的硅芯片工艺相似,很多现有的技术都可以应用到新材料上,因此也被视为在10nm之后继续取代硅的理想材料。目前需要解决的最大问题,恐怕就是如何提高晶圆产量并降低工艺成本了。

   

 

  三星认为到了7nm,EUV光刻是势在必行,但EUV光刻生产中仍有一些设备上的难题亟待攻克。其中就包括对空白检验工具和光刻胶光化学性质的研究。

  7nm之后的系统创新

  根据三星介绍,7nm之后除了在架构和材料商创新,还可以在系统上创新。其中包括了MRAM创新方案和集成封装。

  三星认为,MRAM是最有希望替代Flash的存储技术,因为需要更少的mask,所以其称为会变得更低,再加上功耗优势,这让mram称为他们关注的方向。

   

 

  MRAM的全称是Magnetoresistance Random Access Memory,磁致电阻随机存储器。目前,MRAM的诸多研究中,已经可以开始生产的产品结构被称为STT-MRAM(Spin Transfer Torque Magnetoresistance Random Access Memory,自旋注入磁化反转磁致电阻随机存储器)。MRAM的结构并不复杂,原理也不难。它采用了类似三明治的结构。

  另外,集成封装也是三星看好的另一个系统解决方案。三星认为,借助2.5D/3D的封装技术,最终做出来的芯片拥有更高的带宽,进而带来更强的系统性能。

   

 

   

 

   



关键词: 三星 7nm

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