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NanoPhotonics向ISMI出货450mm晶圆检测设备

作者: 时间:2009-02-20 来源:SEMI 收藏
        据Semiconductor International网站报道,签订合约,将向出货两台用于450mm的缺陷检测设备。

        这两台设备分别是Reflex MC 450和BevelCam MC 450,两台设备将和450mm设备前端模块一同集成于 450mm协同测试试验台。

本文引用地址:https://www.eepw.com.cn/article/91436.htm


关键词: NanoPhotonics ISMI 晶圆

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