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飞思卡尔运用JMP提升半导体良率

作者: 时间:2010-01-12 来源:电子产品世界 收藏

  飞思卡尔在这方面使用的工具是专业。半导体行业的工程师整天要和数据打交道,飞思卡尔内部的几位既懂专业又懂统计的资深专家发挥使用简单、功能强大、可视化效果好的优势,让成为了飞思卡尔良率提升的关键武器之一。

本文引用地址:https://www.eepw.com.cn/article/105020.htm

  例如,飞思卡尔的工程十分用半导体行业中常见的图Wafer Plot来初步分析的缺陷,以下两个图形就是运用JMP软件绘制而成的。第一张图显示的是单个的质量特征,并配有帕累托图Pareto Plot展示芯片的良率状况和各种缺陷出现的频次。第二张图则是从整体层面显示一个批次Lot产品的质量特征(一般来说,飞思卡尔规定25个晶圆组成1个批次)。

  基于JMP软件的单个晶圆图分析

  基于JMP软件的5X5晶圆图

  在当前的经济形势和行业条件下,企业不允许工程师们花费大量的时间来进行数据分析和展示,而是要求工程师们将更多的精力放在实际的业务改进中。飞思卡尔巧妙地利用JMP提供的自动编程语言JSL(JMP Script Language)为大规模重复性分析、绘图工作以及成熟的建模工作开发出各种JMP脚本程序,从很大程度上实现了“分析自动化”,使得良率改善人员只需要要点击一两个按钮,就可以完成通过菜单操作需要几个小时才能完成的分析工作,大大节省了数据分析、问题发现以及解决方案形成的时间。



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