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英特尔、台积电与IBM的16/14nm技术有何不同?

作者: 时间:2015-02-28 来源:日经BP半导体调查 收藏

  未透露细节

本文引用地址:https://www.eepw.com.cn/article/270233.htm

  发布了16nm工艺块体FinFET技术。该公司在16nm工艺中首次采用了FinFET,此次发布的是其中的第2代工艺技术。该公司已开始进行16nm工艺技术的试产。

  的16nm技术采用侧壁工艺形成Fin间距为48nm、栅极间距为90nm的微细图案。栅极长度“估计为25nm左右,可能没有(像那样)微细化至20nm”。台积电的论文“并未绍特性改善理由等详情,其内容让阅读的人感觉有点失望”。

  与采用块体FinFET的和台积电不同,发布了采用SOI FinFET的14nm工艺技术。利用侧壁工艺实现了Fin间距42nm及栅极间距80nm等。这项技术的另一个特点是,混载存储器采用DRAM而不是 SRAM,实现了0.0174μm2的极小单元面积。

  与成本相比,更重视性能

  采用SOI基板的话,“基板成本会比块硅基板高出数倍,但从制造工艺来看,可轻松形成Fin,而且性能上也有优势,那就是可以消除Fin正下方的寄生容 量”。认为,提高Fin的高度之后,就会与耗电量发生此消彼长的关系,因此该公司“采用了与不同的优化方法,比如将Fin的高度设置比较 低”。

  据平本介绍,IBM的14nm工艺技术组合使用两种栅极工作函数和掺杂工艺,在很大范围内调整了阈值电压,这也是其特点之一。区分使用两种栅极工作函数的方法在技术上“很难实现”。

  基于上述三家公司发布的内容,平本表示,在16/14nm之后的工艺技术中,现行的“双栅极构造是否会进化为(用栅极电极全方位包围通道的)栅极环绕 (Gate-All-Around)构造尚不明朗。目前还有一个方向是通过增加Fin高度来获得W(实效栅极宽度),10nm以后工艺的动向值得关注”。


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关键词: 英特尔 台积电 IBM

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