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当前和未来开放式芯粒生态系统面临的挑战 ​

作者:EEPW时间:2024-03-18来源:EEPW收藏

目前有多种方法可以处理系统。其中一种方法是采用封闭系统,制造商内部开发所有组件,并负责委托和监督装配。在这种情况下,一切都在该公司内部协调,不需要标准。

本文引用地址:http://www.eepw.com.cn/article/202403/456441.htm

另一种方法是建立开放式系统。这种方法可以开拓一个更大的未来市场,因为它支持开发满足多个公司需求的新系统。对于希望专注于开发一个或多个将成为整体系统一部分的的初创公司来说,开放式芯粒系统方法特别有用。通过这种方式,他们可以充分实现他们的创新想法,而不必担心其他组件。

实施这样的开放式芯粒系统取决于建立相关的标准。当前的标准化工作集中在连接各个组件的接口上。 UCIe 和 BoW 是推动这一领域标准化的最引人注目的参与者。

如今,各种公司对芯粒在从数据中心到汽车到计量等各种应用中的需求正在增加 - 后者专注于不同电路技术的异构集成。然而,与开放式芯粒系统相关的挑战因应用而异。在汽车领域,主要挑战之一在于引导过程以及个别组件和整体系统的安全性。对于数据中心应用,重点是确保整个系统的性能良好。在测量设备领域,优先考虑的是促进不同 - 在某些情况下是“奇特”的 - 电路技术的异构集成,这反过来需要建立相应的接口。

克服这些挑战意味着建立涵盖比目前用于接口的标准更多的额外标准。肯定需要一个标准来使引导过程和激活芯粒系统的过程一致。例如,关于个别电路的一些发展已经取得了进展 - 例如通过 JTAG - 但是这些必须得到显着扩展,目前还不能应用于芯粒。此外,需要一个标准来确保芯粒系统作为整体和个别组件的安全性。这样的标准必须涵盖各种方面,包括对强大供应链,系统开发以及应用软件的安全和认证安装的要求。

当涉及到在数据中心使用的开放式芯粒系统时 - 以及在汽车行业的某些领域 - 未来的性能要求需要在电源供应方面更大的灵活性。主要需要标准是关于使用的许多不同电压级别,每个电压级别对电力供应提出巨大不同要求,从几毫安到几百安不等。但是,在这方面也没有明显的标准化努力。

测试芯粒系统的标准现在已经在望了,但是这些标准仍然需要扩展以满足额外的要求。未来,这些标准必须涵盖的不仅仅是测试本身,还有相关的激活和故障定位过程的访问。对于所有芯粒系统来说,对激活过程的访问是必要的,因为如果系统在该阶段出现故障,唯一的找出问题所在的方法就是通过破坏性测试。此外,关键是要相当好地确定故障的原因,因为然后系统将不再可用于进一步的测试。故障定位的标准对于汽车应用尤为重要,因为满足这些标准是获得认证机构批准的唯一途径。



关键词: 芯粒 封装

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