边界扫描与处理器仿真测试(05-100)

　　同一个边界扫描口可用于两种测试方法,使结构性测试与功能性测试之间的交换是无缝的。且从上面的论述可知,扫描测试和仿真测试是相辅相成的。例如存储器件即可使用边界扫描,也可使用处理器基仿真,但只有前者能验证存储器件之间的结构性互连。另一方面,仿真测试是按实际工作频率全速进行的,且能验证装载的软件版本,保证电路板是在自己的软件引导下工作的。总之,使用组合方法就可优化测试覆盖范围,缩短研发周期。

　　在一个系统中组合两种测试技术,还能更广泛应用在产品生存期的各个阶段。过去,边界扫描通常部署在产品的研发阶段,用它来纠错原型电路板,在组装和生产阶段来确定并诊断结构性缺陷。处理器仿真则广泛地用作功能性测试,帮助现场维修人员纠错并诊断有故障的微处理器板。具有两种技术的组合测试平台让两种测试技术用于过去无法使用的产品生存期的各个阶段。例如,边界扫描也可用于生产阶段有故障电路板的维修,在追寻有问题系统的原因时,它也是仿真测试的辅助手段。

　　结语

　　由于电路板的多样性,任何一种测试方法都很难提供满意的测试覆盖范围。将互补的测试方法组合在一起,就有可能增加测试覆盖范围。然而随之而来的问题是,哪些测试方法更有利于组合。选择边界扫描测试和处理器仿真测试是因为两者都能使用JTAG接口。更重要的是,它们的功能是相辅相成的。边界扫