ATE参加SEMICON/China 展会

 

    Nextest 将展示能应对与高容量闪存、逻辑、系统芯片 (SOC) 和图像传感器等设备类型相联系的测试挑战的产品。这些解决方案的设计能在降低测试成本的同时，提升容量、产量和可靠性。

 

    Nextest 将在 SEMICON/China 展会第2000号展位展示下列测试解决方案：

 

    Magnum iCP-EV

 

    该128引脚的 Magnum iCP-EV “个人”测试系统是同类首创型产品，并且是首次进行展示。针对 CMOS 图像传感器市场而设计的 Magnum iCP-EV 为 CMOS 图像传感器制造商提供了一种可选的用于程序开发及调试的低成本设计解决方案。由于该测试器体积小，在把设备送至 Magnum iCP 进行大规模生产测试之前，在办公室环境下就可进行必要的设计工作。这种新颖的方法可以实现向并行测试 CMOS 图像传感器设备的平稳过渡，并且这种方法的成本效益与使用昂贵的大型测试设备进行必须的工程设计工作相比要好得多。CMOS 图像传感器设备如今正被用于无数的消费产品，例如：手机、相机、网络摄像头、个人数字助理以及监控摄像头等，而在不远的将来还将有大量新的应用出现。

 

    Magnum SV

 

    同时在 SEMICON/China 展示的还有1280引脚的 Magnum SV 测试系统。针对高成长的闪存、逻辑和系统芯片市场而设计的 Magnum SV 是高效的生产测试解决方案，能显著提高产量并缩短测试时间。在与合适的探测器或处理器结合使用时，Magnum SV 创建的界面解决方案能够并行测试多达160个设备，适用于成本敏感型的消费数字产品市场。凭借 Magnum 灵活的架构，各系统能在 Magnum PV 实现最少128引脚的配置，而用 Magnum Grande 实现多达7680引脚和960个点的配置。此外，所有 Magnum 系列采用相同的操作软件、测试程序、内部元件和备件 -- 从而消除了与培训和备件库存相关的额外成本。