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半导体​测试​系统​ 文章 进入半导体​测试​系统​技术社区

中芯国际今年将进全球45纳米"俱乐部"

  •   中芯国际正悄悄从海外进口关键设备,欲抢在今年年底试产45纳米芯片,从而进入全球半导体代工业45纳米的“俱乐部”。   消息人士对《第一财经日报》透露,29日中芯国际上海12英寸厂采购浸润式光刻机已到位,“这标志着中芯国际在量产45纳米芯片方面有了生产保障。”   天价光刻机悄悄到厂   本报获悉,这是中国大陆的第一台浸润式光刻机,该设备由荷兰ASML生产,后者是全球这一领域的第一大供应商。上述消息人士透露,由于光刻机属高精密设备,为防止震动,从机场
  • 关键字: 中芯国际  45纳米  芯片  半导体  台积电  光刻机  

投入3500万资金 深圳8月出台新政扶持IC业

  •   在国内集成电路(IC)产业增速明显放缓的现状下,深圳市政府即将出台一系列优惠政策继续扶持IC产业快速发展。   日前,《第一财经日报》从第六届珠三角集成电路(IC)产业研讨会上获悉,深圳市政府将把一些快速发展的IC设计企业作为重点支持对象,以吸引外地IC设计企业落户深圳。   其中,加强与香港IC设计企业合作也是该计划的重要组成部分,今年深圳市政府资助“深港创新圈”的3500万元专项资金将重点用于IC设计产业。   “政府、行业协会、IC基地和企业将形成&ls
  • 关键字: IC  集成电路  RFID  半导体  

五月份全球半导体销售增长7.5%达到218亿美元

  •   【eNet硅谷动力消息】半导体工业协会公布月度报告显示,今年五月份全球半导体的销售收入从去年同期的203亿美元增长了7.5%达到218亿美元。受到全球消费电子产品销售强劲和美国消费性支出好转的推动,五月份半导体销售收入比四月份增长了2.8%,四月份全球半导体销售收入为212亿美元。   数据显示,在半导体销售中,计算机是最大的终端市场。今年前五个月,全球半导体销售收入达到1034亿美元,比去年同期增长了5.3%。   半导体工业协会总裁George Scalise在一份声明中表示,尽管有媒体报告了
  • 关键字: 半导体  计算机  芯片  数码相机  手机  NAND  闪存  

半导体集成电路的发展及封装工艺面临的挑战

  •   半导体芯片结构尺寸的缩小使得RC延迟成为制约集成电路性能进一步提高的关键性因素。转向低k铜工艺技术是业界给出的解决方案。双大马士革工艺取代了传统的铝“减”工艺,成为低k铜互连材料的标准制造工艺。   为了能与芯片制造工艺完美结合,不产生可靠性问题,低k绝缘材料必须具备一系列期望的材料特性,对低k材料研发本身的挑战在于:在获得所需要的低介电常数的同时,低k材料还必须满足良好的热和机械特性。但目前并没有完全符合这些期望特性的低k材料被制造出来,因而给半导体制造工艺带来了挑战。
  • 关键字: 半导体  集成电路  低k铜  制造工艺  

R&S测试仪器用于中国权威数字电视实验室

  •   中国广播电视规划院(ABP)选择R&S公司的新型仪器用于对TS over IP新业务以及DTMB(GB20600-2006)标准的全面实验。随着数字电视以及相关的新媒体业务在中国的不断发展,ABP实验室已成为中国广播行业标准的重要研究机构。除了原有的R&S公司射频测试设备外,ABP又添置了R&S公司功能极大增强的数字视频分析系统DVM400、DTMB全模式测试调制器SX800和新型多标准测试接收机/电视分析仪ETL,以便有效而全面地对TS over IP新业务系统进行诊断,同时
  • 关键字: 数字电视  测试  R&S  TS over IP  

移动互联网将引发半导体产业变局

  •   移动互联网造就的商机实在太诱人了!作为上游厂商,英特尔志在必得,威盛视此为翻身一战;NVIDIA则选择借GPU之势,延ARM路径突进。x86阵营内部的竞争、传统ARM阵营与x86阵营之间的对抗,会撼动半导体的产业格局吗?   一场围绕移动互联网设备的半导体厂商之间的竞逐不可避免地上演了,而且呈愈演愈烈之势。本月初在中国台北举行的Computax展会就充当了这样的竞秀舞台:英特尔高调发布“凌动(Atom)”处理器,NVIDIA与ARM则联合推出Tegra处理器,而就在一周之前,
  • 关键字: 半导体  移动互联网  NVIDIA  GPU  ARM  英特尔  威盛  

编写高效的测试设计(testbenches)

  •   简介:   由于设计的规模越来越大和越来越复杂,数字设计的验证已经成为一个日益困难和繁琐的事。面对挑战,验证工程师们依靠许多的验证工具和方法。对于大的系统,如几百万门的设计,工程师们一般使用一套可靠的验证工具。当然,对于一些小的设计,设计工程师常常发现带有测试的hdl仿真器就可以做得很好。   测试设计已经成为一个验证高级语言设计HLL (High-Level Language) 的标准方法。   典型的,测试设计完成以下任务:   实现测试设计;   仿真通过使用模块的测试向量来仿真测试设
  • 关键字: 测试  HLL  

基于CAN总线的电动汽车整车参数测试网络

  •   1、引言   现代交通的迅猛发展带来的能源与环境危机已经成为世界性的难题。发展电动汽车,采用清洁能源,被认为是最好的解决方案之一。为此,各国投入了大量的人力物力进行电动汽车的研究,并取得了可喜成果。   电动汽车不仅包括传统汽车的运行速度、行驶里程等参数,还包括电动汽车独有的能耗、电源电压、电流及电机转速等电气参数,参数多达100多项。掌握这些参数对于分析电动汽车整体运行性能有着重要意义。这些参数类型各异、位置分散,要想集中测量存在很大困难。因此,需要分散测量,再通过监控节点集中显示和记录的方式构
  • 关键字: CAN  电动汽车  测试  单片机  监控  

Premier Farnell集团宣布与NXP签署全球特许分销协议

  •   Premier Farnell集团日前宣布与NXP 半导体签署新的全球特许分销协议,供货产品包括NXP分立组件、逻辑器件和ARM微控制器。作为Premier Farnell 集团的全资子公司,派睿电子将凭借其一如既往的小批量、高品质、多渠道服务理念,为国内广大电子工程师提供全球最领先的NXP半导体产品。同时,Premier Farnell集团已为进一步加强旗下全球品牌的现货提供能力做出了新的规划,包括设立在中国的派睿电子、亚洲其它地区的Farnell-Newark、美国的Newark、欧洲、印度和澳大
  • 关键字: 半导体  Premier Farnell  NXP  分销  飞利浦  

两岸急需制定LED照明通用标准

  •   “LED产业的国家标准即将发布。考虑到国家标准与国际标准还有一定差距,我们打算把日本的新标准也吸收进来。此外,厦门希望承接台湾地区光电产业转移,而我国台湾地区的标准和我们也不一样,我们正与对岸的学界、产业界探讨制订双方通用的行业标准、企业标准。”日前厦门大学物理与机电工程学院副院长陈忠说。   陈忠表示,由于标准不同,台商来厦投资,生产的LED产品可以不符合大陆标准,而厦门的LED企业为台湾厂商代工,生产出来的产品也可能不符合对方的要求。制订通用标准很有必要。   陈忠说,
  • 关键字: LED  照明  国家标准  光电  半导体  

半导体器件寿命测试

  • 电子产品世界,为电子工程师提供全面的电子产品信息和行业解决方案,是电子工程师的技术中心和交流中心,是电子产品的市场中心,EEPW 20年的品牌历史,是电子工程师的网络家园
  • 关键字: 半导体  器件  

RIGOL测试测量在线研讨会抽奖结果公布

  •   2008年6月11日下午三点,《电子产品世界》杂志社、电子产品世界网站和北京普源精电科技有限公司(RIGOL)联合举行RIGOL测试测量研讨会抽奖活动。此次抽奖活动设置了特等奖、一、二、三等奖四类奖项,共有67名幸运来宾获奖!   RIGOL于2008年5月28日在电子产品世界网站(www.eepw.com.cn)成功举办了“利用LXI搭建高性能测试测量系统”在线研讨会.本次研讨会得到了广大网友的积极关注和支持,取得了很好的互动效果和反响。为了方便广大网友对研讨会内容重复观看
  • 关键字: 普源精电  测试  测量  RIGOL    

价格压力大 晶圆测试厂被迫自行开发设备

  •   据Digitimes网站报道,电子产品价格压力有增无减,对半导体测试业者而言,来自客户要求降价的压力持续存在。为确保获利,测试业者也开始思考,除降价外能够替客户节省成本的方法。京元电总经理梁明成表示,基于上述理由,该公司积极自行开发测试设备,尤其在测试资本支出金额有逐年降低的情况,而测试业为提升竞争力,却必须持续投资,因此自行开发测试设备有其必要性,未来该趋势将会逐渐显著。   京元电20日举办半导体产品测试技术研讨会,国内外IC设计公司、晶圆厂、测试设备供应商等近300人参加,规模比起2007年盛
  • 关键字: 晶圆  测试  半导体  IC设计  

基于ARM的综合测试仪设计

  •   1引言   我国的疆域广阔,时区分布不同,海拔以及温度,湿度等气候差异都很大,实时的了解我们所处位置的气候情况对工作和生活是很重要的。尤其对一些野外工作的科研人员来说,需要测试海拔,温度,湿度等物理量作为参考因素。为了测量这些物理量需要我们携带多种测试设备,这对野外工作很不方便。为了实时方便的了解我们所处的海拔高度和天气情况,我们需要有更便捷,功能更齐全的综合测量仪器。同时可以将现场的数据送到PC,以方便今后的进一步分析和处理。   2系统组成以及基本原理   整个综合测试仪主要由五个部分组成。
  • 关键字: ARM  测试  传感器  控制器  

惠瑞捷推出适用于V93000平台的Inovys硅片调试解决方案

  •   惠瑞捷半导体科技有限公司推出Inovys™硅片调试解决方案,以满足更高效调试的需求,加速新的系统级芯片 (SoC)器件的批量生产。惠瑞捷全新的解决方案把革命性的Inovys FaultInsyte 软件和具有可扩充性和灵活性惠瑞捷V93000 SoC测试系统结合在一起。这是一款集成式解决方案,通过把电路故障与复杂的系统级芯片上的物理缺陷对应起来,可以大大缩短错误检测和诊断所需的时间。它明显地缩短了制造商采用90 nm(及以下)工艺调试、投产和大批量生产所需的时间。   由于复杂的系统级芯
  • 关键字: 半导体  惠瑞捷  硅片调试  SoC  
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半导体​测试​系统​介绍

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