无源RFID标签芯片灵敏度测试方法研究 作者： 时间：2012-04-05 来源：网络 加入技术交流群 扫码加入和技术大咖面对面交流海量资料库查询 收藏 <a href='https://ad.eepw.com.cn/www/delivery/ck.php?n=a635e61e&cb=INSERT_RANDOM_NUMBER_HERE' target='_blank'><img src='https://ad.eepw.com.cn/www/delivery/avw.php?zoneid=88&cb=INSERT_RANDOM_NUMBER_HERE&n=a635e61e' border='0' alt='' /></a> <a href='https://ad.eepw.com.cn/www/delivery/ck.php?n=a576c0a2&cb=INSERT_RANDOM_NUMBER_HERE' target='_blank'><img src='https://ad.eepw.com.cn/www/delivery/avw.php?zoneid=87&cb=INSERT_RANDOM_NUMBER_HERE&n=a576c0a2' border='0' alt='' /></a> 图4是芯片校准前实际功耗测试结果。其中，圆圈表示从标签测试仪扫描图像中对个别频点采样得到芯片灵敏度数值；实线为利用蓝色圆圈表示的数值通过多项式拟合所得曲线。图4所示曲线与图3所示的曲线基本一致。 利用矢量网络分析仪测试芯片的反射系数Γ，使用式(1)对测得的芯片灵敏度数据进行校准，得到图5所示的芯片能量灵敏度曲线。其中，圆点为利用图4中圆圈数值进行校准之后的灵敏度值，曲线为利用圆点表示的样本值进行3次多项式拟合所得曲线，即校准之后的灵敏度曲线。 上一页 1 2 3 4 下一页
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