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Mentor增强7nm制程初期设计开发

作者:时间:2016-04-05来源:eettaiwan 收藏

  Graphics藉由完成台积电(TSMC)10奈米FinFETV1.0认证,进一步增强和优化Calibre平台和AnalogFastSPICE(AFS)平台。除此之外,Calibre和AnalogFastSPICE平台已可应用在基于TSMC7奈米FinFET制程最新设计规则手册(DRM)和SPICE模型的初期设计开发和IP设计。

本文引用地址:http://www.eepw.com.cn/article/201604/289225.htm

  为协助共同客户能准备好使用先进制程做设计,为TSMC10奈米制程改进物理验证工具,加速CalibrenmDRCsign-off工具的执行时间,使其优于去年初针对10奈米精确度进行认证时的工具执行时间。CalibrenmLVS工具已可支援10奈米制程中新的元件参数抽取,以获取更精准的SPICE模型和自热模拟。同时,还提升了CalibrexACT解决方案的寄生参数精确度,并积极改善布局寄生参数抽取流程以满足10奈米技术的要求。

  Calibre平台还可帮助设计工程师提高设计可靠度和可制造性。在为10奈米制程电阻和电流密度检查做了技术的改进后,现在TSMC倚赖CalibrePERC可靠性验证解决方案做可靠度确认。在可制造性设计(DFM)方面,Mentor添加色彩感知填充和更精密的对齐和间距规则在CalibreYieldEnhancer工具的SmartFill功能中。此外,Mentor还优化CalibreDESIGNrev协助晶片最后完工工具、CalibreRVE结果检视器和CalibreRealTime介面,为设计工程师在多重曝光、版图布局与电路图(LVS)比较和电气规则检查(ERC)及可靠性验证方面提供更容易整合和除错功能。

  如今,Mentor和TSMC携手合作,将Calibre平台的多样化功能应用至7奈米FinFET制程中。CalibrenmDRC和CalibrenmLVS工具业已通过客户早期设计的验证。TSMC和Mentor正扩大SmartFill和Calibre多重曝光功能的使用功能,为7奈米的制程需求提供技术支援。

  为获得快速、准确的电路模拟,TSMC认证AFS平台,包含AFSMega电路模拟器可用于TSMC10奈米V1.0制程。AFS平台还通过最新版7奈米DRM和SPICE可用于早期设计开发。

  为支援10奈米制程先进的设计规则,Mentor增强包括Olympus-SoC系统在内的布局布线平台,并且优化其结果能与sign-off参数抽取和静态时序分析工具有相关性。这项优化也扩展至7奈米制程。



关键词: Mentor 7nm

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