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DFT

  DFT   随着电子电路集成度的提高,电路愈加复杂,要完成一个电路的测试所需要的人力和时间也变得非常巨大。为了节省测试时间,除了采用先进的测试方法外,另外一个方法就是提高设计本身的可测试性。其中,可测试性包括两个方面:一个是可控制性,即为了能够检测出目的故障(fault)或缺陷(defect),可否方便的施加测试向量;另外一个是可观测性,指的是对电路系统的测试结果是否容易被观测到。  在集成电路(Integrated Circuit,简称IC)进入超大规模集成电路时代,可测试性设计(Design for Test,简称DFT)是电路和芯片设计的重要环节,它通过在芯片原始设计中插入各种用于提高芯片可测试性(包括可控制性和可观测性)的硬件逻辑,从而使芯片变得容易测试,大幅度节省芯片测试的成本。

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合见工软发布测试向量自动生成工具,大幅加速集成电路测试

英诺达发布DFT静态验证工具,提高IC设计质量及可靠性

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DFT 硬件加速 2018-07-26

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ATPG DFT 2017-06-04

转向使用即插即用的分层 DFT 的好处

分层 DFT 2013-10-29

硬件仿真正当时,DFT降低不良率

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Magma 最新版Talus Design面世

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FFT PFT 2008-10-25

基于FPGA的FFT处理器设计

FPGA FFT 2008-06-26

OFDM信道调制解调的仿真及其FPGA设计

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FPGA FFT 2008-05-09

数字接收机I/Q支路不平衡的时域补偿

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Synopsys DFT MAX助珠海炬力节省90%测试成本

DFT MAX 2007-03-12

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Synopsys与联华电子合作以低功耗和DFT功能加强90纳米参考流程

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三洋采用DFT MAX改善测试质量

DFT MAX 2006-12-08