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DFT

　　DFT 　　随着电子电路集成度的提高，电路愈加复杂，要完成一个电路的测试所需要的人力和时间也变得非常巨大。为了节省测试时间，除了采用先进的测试方法外，另外一个方法就是提高设计本身的可测试性。其中，可测试性包括两个方面：一个是可控制性，即为了能够检测出目的故障（fault）或缺陷（defect），可否方便的施加测试向量；另外一个是可观测性，指的是对电路系统的测试结果是否容易被观测到。　　在集成电路（Integrated Circuit，简称IC）进入超大规模集成电路时代，可测试性设计（Design for Test，简称DFT）是电路和芯片设计的重要环节，它通过在芯片原始设计中插入各种用于提高芯片可测试性（包括可控制性和可观测性）的硬件逻辑，从而使芯片变得容易测试，大幅度节省芯片测试的成本。查看更多>>

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DFT DTFT 2018-08-22

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DFT 硬件加速 2018-07-26

低功耗制造性测试的设计-第二部分

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FIR数字滤波器具有线性相位的充分条件是什么？

DFT论坛
07-13  [资料]电路分析中的ZT和DFT
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06-12  什么是DFT,DFT是什么意思
dolphin|浏览：1098|回复：0| dolphin 2014-06-12 10:32:07
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