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ATPG

自动测试图样产生(Automatic test pattern generation， ATPG) 系统是一种工具，产生资料给制造出来后的数字电路作测试使用。测试超大型集成电路，要达到非常高的错误涵盖率（en:Fault coverage）是非常困难的工作，因为它的复杂度很高。针对组合逻辑（Combinatorial logic）和循序逻辑（Sequential logic）的电路测试，必须要使用不同的 ATPG 方法。。查看更多>>

低功耗制造性测试的设计-第二部分

假设设计的某个时钟驱动了大量触发器，以至它们的峰值开关动作超过设计的总体功率预算。我们不希望测试逻辑去改变任何时钟，相反我们将设计分割成N个模块，各模块具有自己的扫描启动引脚，并且包含自己的扫描压缩逻辑和扫描链。(如图2...

ATPG 数字电路设计 2017-06-04

低功耗制造测试的设计-第一部分

完全的数字电路测试方法通常能将动态功耗提高到远超出其规范定义的范围。如果功耗足够大，将导致晶圆检测或预老化(pre-burn-in)封装测试失效，而这需要花大量的时间和精力去调试。当在角落条件(corner condit...

ATPG DFT 2017-06-04

混合扫描测试解决方案的优势

扫描测试是测试集成电路的标准方法。绝大部分集成电路生产测试是基于利用扫描逻辑的 ATPG(自动测试向量生成)。扫描 ATPG 是一项成熟的技术，特点是结果的可预测性高并且效果不错。它还能实现精确的缺陷诊断，有助于...

扫描测试 IC测试 2016-10-18

微捷码向LogicVision提供ATPG技术授权

美国加州圣荷塞，芯片设计解决方案供应商微捷码（Magma®）设计自动化有限公司日前宣布，公司已向领先的半导体内置自测（BIST...

微捷码 BIST 2009-02-18

微捷码发表有片上扫描链压缩功能的Talus ATPG与Talus ATPGX

　　捷码(Magma)设计自动化公司发表有片上扫描链压缩功能的Talus ATPG与Talus ATPGX。这些先进的自动测试向量生成(ATPG) 产品使设计师能明显改进测试质量, 减少周转时间并且降低纳米级芯片的成本...

消费电子捷码 2007-10-22

微捷码发表有片上扫描链压缩功能的Talus ATPG与Talus ATPGX

微捷码(Magma)设计自动化公司发表有片上扫描链压缩功能的Talus ATPG与Talus ATPGX。这些先进的自动测试向量生成(ATPG) 产品使设计师能明显改进测试质量, 减少周转时间并且降低纳米级芯...

消费电子微捷码 2007-10-18

ATPG

低功耗制造性测试的设计-第二部分

低功耗制造测试的设计-第一部分

混合扫描测试解决方案的优势

微捷码向LogicVision提供ATPG技术授权

微捷码发表有片上扫描链压缩功能的Talus ATPG与Talus ATPGX

微捷码发表有片上扫描链压缩功能的Talus ATPG与Talus ATPGX

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