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ATPG

自动测试图样产生(Automatic test pattern generation， ATPG) 系统是一种工具，产生资料给制造出来后的数字电路作测试使用。 测试超大型集成电路，要达到非常高的错误涵盖率（en:Fault coverage）是非常困难的工作，因为它的复杂度很高。 针对组合逻辑（Combinatorial logic）和循序逻辑（Sequential logic）的电路测试，必须要使用不同的 ATPG 方法。 。

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