无源RFID标签芯片灵敏度测试方法研究

摘要：提出一种测试UHF频段无源RFID标签芯片灵敏度的方法。该方法依据矢量网络分析仪和标签测试仪接口特性阻抗相同的特性，利用矢量网络分析仪测试标签芯片的反射系数，然后通过标签测试仪测试芯片和仪器接口的匹配损耗，进而计算标签芯片的灵敏度。利用该方法对NXP_G2XM芯片和Impinj_Monza3芯片在800～1 000 MHz频段内灵敏度进行测试，并将测试结果与datasheet进行对照，分析误差产生的原因，最终证明此方法的准确性。该测试方法采用常规仪器对800～1 000 MHz频段内灵敏度进行测试，有重要实际意义。
关键词：灵敏度；RFID；UHF；标签芯片；IC

0 引言
RFID标签芯片的灵敏度是芯片刚刚被激活所需的最小能量。灵敏度是标签芯片最重要的性能指标，它的大小直接影响RFID标签的性能，例如标签读／写距离等。因此标签芯片灵敏度准确测试是芯片测试的重要内容之一。在某一频段内，绝大多数芯片厂商仅仅给出芯片一个灵敏度值，而没有标识出芯片灵敏度随频率的变化情况。利用本文所描述的灵敏度测试方法测试芯片的灵敏度，可以获得芯片在800～1000MHz频段内的灵敏度变化曲线，对于实际应用更有参考价值。准确测试芯片灵敏度随着频率的变化情况对于芯片开发人员和芯片的实际应用都具有重要的意义。

1 芯片灵敏度测试原理
将经过封装的芯片引脚焊接到阻抗为50 Ω的SMA连接器，将SMA头通过特征阻抗为50 Ω的同轴线连接到矢量网络分析仪或者RFID标签测试仪的输出口，不需要进行特殊的匹配电路。测试设备需要标签测试仪和矢量网络分析仪。
标签测试仪可采用Voyantic公司研发的Tagformance标签测试仪，该测试仪是带有一个输入天线和输出天线接口的专用RFID读写器。天线接口中一个用来向标签传输信号，另一个接收标签的反向散射信号，软件会对该信号进行分析，其内部结构如图1所示。从图1可以看出，标签测试仪的内部结构相当于一个输出频率、功率可调可标定，接收信号可解调可解码的宽频带RFID读写器。实际测试时，为了使得读数方便，在RFID标签测试仪的衰减器输出端口再串接一个20 dB衰减器，然后用同轴线将衰减器和装有芯片的SMA头相连。利用标签测试仪可以扫描出芯片在不匹配的情况下，芯片正常工作所需要的最小工作能量Pmin随频率的变化情况。

测试所用的矢量网络分析仪为E5071型，使用之前采用85033E校准头进行校准。实际测试时，将矢量网络分析仪的输出口和安装有芯片的SMA头用特征阻抗为50 Ω的同轴线相连。在测试频点上，将矢量网络分析仪的输出能量设置为由标签测试仪(在不匹配状态下)测得的芯片的最低功耗Pmin，从网络分析仪上读取反射系数，依此类推，可以得到芯片在不同频率下的反射系数Γ。