KLA-Tencor技术资讯-电子产品世界网

KLA谈5G对半导体及制造工艺的挑战

1. 5G发展会带来的影响和好处有哪些？ 5G 的发展会为半导体行业带来哪些挑战？5G，即第五代无线网络技术，为移动电话带来超高速率（数据传输比 4G LTE 快 100-200 倍），在流媒体应用上响应更快...

KLA 5G 2022-08-23

KLA发布全新缺陷检测与检视产品组合

加利福尼亚州米尔皮塔斯，2019年7月9日- KLA公司（纳斯达克股票代码：KLAC）今日发布392x和295x光学缺陷检测系统和eDR7380™电子束缺陷检视系统。这些全新的检测系统是我们公司旗舰产品系列——图案晶圆平...

KLA 光学缺陷检测 2019-07-09

本土汽车芯片制造如何提升可靠性？

　　长期以来，汽车电子芯片是我国芯片业的空白之一。为此，电子产品记者访问了KLA-Tencor公司，请他们分享了汽车芯片制造中的可靠性控制方法。　　汽车芯片与消费类芯片的区别　　在工艺技术方面，汽车和消费类芯片基本相同—...

KLA-Tencor 芯片 2018-12-03

MicroLED的市场趋势及制造检测挑战

作者迎九近日，KLA-Tencor 公司产品市场营销经理Ravichander Rao和Mukund Raghunathan接受了《电子产品世界》的采访。MicroLED的市场趋势　　MicroLED市场大致可...

KLA-Tencor Ravichander Rao 2018-10-25

KLA-Tencor宣布推出Kronos 1080和ICOS F160检测系统：拓展IC封装产品系列

　　KLA-Tencor公司今日宣布推出两款全新缺陷检测产品，旨在解决各类集成电路(IC)所面临的封装挑战。 Kronos™ 1080系统为先进封装提供适合量产的、高灵敏度的晶圆检测，为工艺控制和材料处置提供关键的信息。...

KLA-Tencor 封装 2018-09-21

KLA-Tencor：制程控制在源头助力客户实现更大生产价值

　　随着技术的进步发展，制程的步骤越来越多，工艺也更加复杂化。如采用多重图形技术的制程则为达到1000多道，而工艺窗口的挑战则要求几乎是“零缺陷”，这就对工艺控制水平提出了更高的要求。制造过程中任何细小的错误都将导致重新...

KLA-Tencor 晶圆 2017-11-17

KLA-Tencor宣布推出针对光学和EUV 空白光罩的全新FlashScanTM产品线

　　今天，KLA-Tencor公司宣布推出全新的FlashScanTM空白光罩*检测产品线。自从1978年公司推出第一台检测系统以来，KLA-Tencor一直是图案光罩检测的主要供应商，新的FlashScan产品线宣告公...

KLA-Tencor EUV 2017-08-17

KLA-Tencor为尖端集成电路器件技术推出全新量测系统

　　KLA-Tencor公司今天针对10纳米以下(sub-10nm)集成电路(IC)器件的开发和批量生产推出四款创新的量测系统：Archer™600叠对量测系统，WaferSight™ PWG2图案晶片几何特征...

KLA-Tencor 集成电路 2017-03-15

KLA-Tencor 快速有效解决客户良率问题与中国半导体行业一同成长

　　看好中国半导体行业未来持续的蓬勃发展，工艺控制与成品率管理解决方案提供商KLA-Tencor (科天)透过半导体检测与量测技术，以最快的速度及最有效的方式，帮助客户解决在生产时面对的良率问题。K...

KLA-Tencor IC 2016-11-30

KLA-Tencor 快速有效解决客户良率问题与中国半导体行业一同成长

KLA-Tencor EUV 2016-11-29

Lam/KLA联姻破局,半导体设备厂商只能合作？

　　半导体设备业者Lam Research与KLA-Tencor的合并案破局，主管机关的裁决认为，这两家公司中的任何一家被合并，对市场都不公平。　　美国主管机关已经驳回了Lam Research与KLA-Tencor...

Lam KLA 2016-10-08

KLA-Tencor 宣布推出新型光罩检测系统

　　今天，KLA-Tencor 公司针对 10 纳米及以下的掩膜技术推出了三款先进的光罩检测系统，Teron™ 640、Teron™ SL655 和光罩决策中心 (RDC)。所有这三套系统是实现当前和下一代掩膜设计的关键...

KLA-Tencor SL655 2016-08-25

KLA-Tencor 宣布推出新型光罩检测系统

　　今天，KLA-Tencor 公司针对 10 纳米及以下的掩膜技术推出了三款先进的光罩检测系统，Teron™ 640、Teron™ SL655 和光罩决策中心 (RDC)。所有这三套系统是实现当...

KLA-Tencor 晶圆 2016-08-20

KLA-Tencor 为领先的集成电路技术推出晶圆全面检测与检查系列产品

　　在美国西部半导体展览会前，KLA-Tencor 公司今天为前沿集成电路制造推出了六套先进的缺陷检测与检查系统：3900 系列(以前称为第 5 代)和 2930 系列宽波段等离子光学检测仪、Puma™ 99...

KLA-Tencor 晶圆 2016-07-13

KLA-Tencor 为先进半导体封装推出新的系列产品

　　今天，KLA-Tencor 公司宣布推出两款新产品，可支持先进半导体封装技术检测：CIRCL-AP™ 和 ICOS® T830。CIRCL-AP 针对晶圆级封装中多种工艺制程的检测与工艺控制而设计...

KLA-Tencor 半导体 2015-04-30

KLA-Tencor 以全新测量系统扩充其 5D™ 图型控制方案

　　今天，KLA-Tencor Corporation推出两款先进的量测系统，可支持 16 纳米及以下尺寸集成电路器件的开发和生产：Archer™ 500LCM 和 SpectraFilm™ LD...

KLA-Tencor Archer 2015-03-05

KLA-Tencor公司助力中国半导体产业发展

　　KLA-Tencor的业务涵盖了半导体的多个领域，从硅片检测到线宽量测，以及光罩部分，KLA-Tencor都在业界处于领先水平。同时，KLA-Tencor也在积极向LED等新的领域扩展。除了这些业务以外，KLA-T...

KLA-Tencor LED 2014-11-21

KLA-Tencor 推出 5D™ 图案成型控制解决方案的关键系统

　　今天，KLA-Tencor 公司宣布推出 WaferSight™ PWG 已图案晶圆几何形状测量系统、LMS IPRO6 光罩图案位置测量系统和 K-T Analyzer® 9.0 先进数据分析系...

KLA-Tencor 测量系统 2014-09-01

KLA-Tencor 为领先的集成电路技术推出检测与检查系列产品

　　今天，在美国西部半导体设备暨材料展 (SEMICON West) 上，KLA-Tencor 公司宣布推出四款新的系统—— 2920 系列、Puma™ 9850、Surfscan&r...

KLA-Tencor 晶圆 2014-07-08

KLA-Tencor推出Teron™ SL650 光罩检测系统

　　KLA-Tencor 公司(纳斯达克股票代码：KLAC)宣布推出 Teron™ SL650，该产品是专为集成电路晶圆厂提供的一种新型光罩质量控制解决方案，支持 20nm 及更小设计节点。Teron SL650 采用 ...

KLA-Tencor SL650 2014-05-22

KLA-Tencor宣布安装处理450mm硅片的Surfscan®SP3系统

KLA-Tencor 公司(纳斯达克股票代码：KLAC)日前宣布其第一台能够检测 450mm 硅片的半导体制程控制系统已装机。该系统被命名为 Surfscan SP3 450, 是市场领先的 Surfscan® SP...

KLA-Tencor Surfscan 2012-07-12

晶圆代工厂先进制程投资助力设备厂商业绩前行

　　包括 KLA-Tencor 、 Novellus Systems 与 Teradyne 等半导体设备大厂陆续在近日公布最新一季财报结果，其销售业绩一如预期呈现衰退，而且他们也估计下一季业绩将衰退更多;这些厂商的收入来...

KLA-Tencor 晶圆代工 2011-11-03

VLSI Research公布第三季度半导体设备厂商前十名单

　　VLSI Research预测称2010第四季度半导体设备市场有所降温，全年半导体设备销售额预计增长96%，达到474亿美元。　　Tokyo Electron和Advantest在排名前十的设备厂商中获得最大的增...

KLA-Tencor 半导体设备 2010-12-16

KLA-Tencor以创新把握经济复苏机遇

　　半导体市场从08年4季度开始，受经济危机拖累陷入低谷，其中半导体制造和封测设备市场更是首当其冲，削减运营成本支出一时间成为半导体厂商追捧的过冬手段。然而，对于谋求市场复兴机遇的企业，继续保持创新和研发的力度才是进补的...

KLA-Tencor 封测 2009-10-13

KLA-Tencor再度裁员10%

　　晶圆设备商KLA-Tencor将再度裁员10%，作为其控制成本的举措之一。　　此次裁员和其他成本控制措施计划将帮助该公司减少单季运营支出达1.4亿美元至1.45亿美元。　　去年11月，KLA-Tencor裁员...

KLA-Tencor 晶圆 2009-04-01

KLA-TENCOR 推出用于测量等离子室效应的 PLASMAVOLT X2

　　KLA-Tencor 公司日前推出了 PlasmaVolt X2，可用于在半导体晶圆处理系统中测量等离子室的状况。由于增加了内嵌式传感器数量，且空间分辨率得到改善，PlasmaVolt X2 对各种参数的变化极为敏感...

KLA-TENCOR PLASMAVOLT 2008-10-21

KLA-TENCOR 推出 PROLITHTM 12 新版计算光刻工具

　　KLA-Tencor 公司日前推出了 PROLITHTM 12 ，这是一款业界领先的新版计算光刻工具。此新版工具让领先的芯片制造商及研发机构的研究人员能够以具有成本效益的方式探索与极紫外线 (EUV) 光刻有关的各种...

KLA-TENCOR 2008-10-13

科天推出磁盘驱动器基片和盘片缺陷检查的新技术

　　KLA-Tencor 公司（纳斯达克股票代码：KLAC）今天针对硬盘驱动器基片与盘片高级缺陷检查推出了 Candela 7100 系列。7100 系列建立在备受肯定且已量产化的 Candela 产品线基础上，专为帮助...

硬盘驱动器 2008-09-25

KLA-TENCOR 推出全新控片检测系统 SURFSCAN SP2XP

　　日前，KLA-Tencor 公司推出了 Surfscan® SP2XP，这是一套专供集成电路(IC) 市场采用的全新控片检测系统，该系统是根据去年在晶片制造市场上推出并大获成功的同名姊妹机台开发而成。全新的 ...

集成电路 IC 2008-09-08

KLA-TENCOR推出新型 P-6 表面轮廓仪系统

　　KLA-Tencor 公司（纳斯达克股票代码：KLAC）今天发布其最新的探针式表面轮廓测量系统 P-6™，该系统针对科学研究与生产环境（例如，光电太阳能电池制造）提供一组独特的先进功能组合。P-6 系统受益于在先进半...

KLA-Tencor 表面轮廓仪 2008-07-17

KLA-Tencor推出可解决二次成像挑战的首款计算光刻机

　　KLA-Tencor 公司（纳斯达克股票代码：KLAC）今天推出其领先业界的最新版计算光刻机 PROLITH 11。这种新型光刻机让用户首次得以评估当前的二次成像方案，并以较低的成本针对光刻在设计、材料与制程开发等方...

KLA-Tencor 光刻机 2008-07-11

KLA-Tencor 推出第十代电子束侦测系统

　　KLA-Tencor 公司（纳斯达克股票代码：KLAC）今天宣布推出 eS35 电子束侦测系统，该系统能够以大幅提升的速度检测和分类更小的物理缺陷，以及更细微的电子缺陷。eS35 属于 KLA-Tencor 的第十代...

KLA-Tencor 电子束 2008-07-09

突破性的 KLA-Tencor 技术--通过识别可印刷缺陷实现高等级光罩检测

　　【加州圣何塞市 2008 年 4 月 24 日讯】KLA-Tencor 公司（纳斯达克股票代码：KLAC）今天推出其称为“晶片平面光罩检测” (Wafer Plane Inspection, ...

KLA-Tencor 光罩检测 2008-04-25

KLA-Tencor 为晶片厂推出光罩检查系统的全新 TeraFab 系列

　　KLA-Tencor 公司推出了全新系列的光罩检查系统，为晶片厂提供更灵活的配置方式，以检验进货的光罩，并检查生产光罩是否存在会降低产能并增加生产风险的污染物。TeraFab 系统提供了三种基本配置，以满足逻辑集成电...

KLA-Tencor 2008-03-15

KLA-Tencor 新推出的 Aleris 8500 薄膜度量系统

　　KLA-Tencor 公司推出 Aleris™ 系列薄膜度量系统，该系列从 Aleris 8500 开始，是业界第一套将可用于生产的成份与多层薄膜厚度测定结合在一起的系统。其它 Aleris 系列系统将在...

KLA-Tencor 度量系统 2008-01-04

KLA-Tencor新推出Aleris 8500薄膜度量系统

　　KLA-Tencor推出 Aleris系列薄膜度量系统，该系列从 Aleris 8500 开始，是业界第一套将可用于生产的成份与多层薄膜厚度测定结合在一起的系统。其它 Aleris 系列系统将在未来数月内以不同配置推...

KLA-Tencor Aleris 2007-12-26

KLA-Tencor推出达到关键性45nm晶片几何度量要求的完整度量解决方案

　　KLA-Tencor 公司推出了 WaferSight 2，这是半导体行业中第一个让晶片供应商和芯片制造商能够以 45nm 及更小尺寸所要求的高精度和工具匹配度，在单一系统中度量裸晶片平面度、形状、卷边及纳米形貌的度...

测试测量 2007-12-17

KLA-Tencor发布全新SURFmonitor系统

KLA-Tencor正式发布最新 SURFmonitor 系统，该模块扩展了业界领先的 Surfscan SP2 无图形表面检测系统，超越了传统的缺陷检测范围，具备监控工...

嵌入式系统单片机 2007-07-13

KLA-Tencor 发布高分辨率表面轮廓测量系统 HRP-350

　　KLA-Tencor日前发布业界最先进的高分辨率表面轮廓测量系统 HRP-350，使测量能力扩展至 45 纳米半导体器件。这个新设备配备半径低至 20 纳米的钻石探针和低噪音平台，从而提高了测量灵敏度，并使芯片生产商...

测试测量 2007-07-11

KLA-Tencor推出新一代电子束缺陷再检查和分类系统

KLA-Tencor正式推出新一代晶片缺陷再检查和分类系统 eDR-5200。该系统综合高分辨率图像和高缺陷再检查灵敏度，以及与 KLA-Tencor 光学检测系统的独特连接技术，进而实现更...

KLA-Tencor 测量 2007-07-06