BIST技术资讯-电子产品世界网

芯测科技提供便捷版内存测试方案EZ-BIST

　　中美贸易战持续延烧，引发后续波及全球的贸易战争，当中更是突显知识产权合法的重要性。有鉴于此，深耕于开发内存测试与修复技术的芯测科技(iSTART-Tek，简称iSTART)为了协助客户对知识产权领域规避严重失信的风险...

芯测 EZ-BIST 2019-01-16

基于FPGA动态可重构技术的二模冗余MIPS处理器

现场可编程门阵列(Field Programmable Gate Array， FPGA)是基于SRAM的一种硬件电路可重配置电子逻辑器件，可通过将硬件描述语言编译生成的硬件配置比特流编程到FPGA中，而使其硬件逻辑发生...

FPGA SRAM 2014-02-14

瑞萨通过Mentor的TestKompress/LogicBIST混合解决方案

Mentor Graphics公司(纳斯达克代码：MENT)日前宣布瑞萨电子正在使用Tessent® TestKompress®/LogicBIST混合解决方案，以应对ISO 26262标准规定的对安全很重要的测试要求。...

瑞萨 Mentor 2013-09-26

安捷伦推出适用于电子测量的多功能台式边界扫描分析仪

安捷伦科技公司(NYSE：A)日前宣布推出 Agilent x1149 边界扫描分析仪。...

安捷伦分析仪 2013-02-20

基于BIST的IP核测试方案设计

1 引言　　随着半导体工艺的发展，片上系统SOC已成为当今一种主流技术。基于IP复用的SOC设计是通过用户自定义逻辑(UDL)和连线将IP核整合为一个系统，提高了设计效率，加快了设计过程，缩短了产品上市时间。但是随着设...

BIST IP核 2012-08-19

模拟BIST的四项基本原则

引言　　数字BIST的工作原理：用一个LFSR(线性反馈移位寄存器)生成伪随机的位模式，并通过临时配置成串行移位 ......

BIST 基本原则 2012-02-12

基于BIST的IP核测试方案

BIST IP核 2011-11-30

实用模拟BIST的基本原则

　引言　　大多数IC设计工程师都了解数字BIST的工作原理。它用一个LFSR（线性反馈移位寄存器）生成伪随机的位模式，并通过临时配置成串行移位寄存器的触发器，将这个位模式加到待测电路上。数字BIST亦用相同的触发器...

BIST 模拟 2011-07-07

基于BIST的编译码器IP核测试

BIST 编译码器 2010-02-28

BIST在SoC片上嵌入式微处理器核上的应用

BIST在SoC片上嵌入式微处理器核上的应用,介绍了SoC片上嵌入式微处理器核的一种测试技术――片内测试(BIST)。讲述了片上系统的由来以及两个重要特点。与传统的测试方法比较后，讨论了MereBIST、LogicBIS...

应用微处理器 2009-10-15

基于LFSR优化的BIST低功耗设计

在BIST(内建自测试)过程中，线性反馈移位寄存器作为测试矢量生成器，为保障故障覆盖率，会产生很长的测试矢量，从而消耗了大量功耗。在分析BIST结构和功耗模型的基础上，针对test―per―scan和test―per―c...

LFSR BIST 2009-09-09

微捷码向LogicVision提供ATPG技术授权

美国加州圣荷塞，芯片设计解决方案供应商微捷码（Magma®）设计自动化有限公司日前宣布，公司已向领先的半导体内置自测（BIST...

微捷码 BIST 2009-02-18

直接合成方法简化串行数据接收机极限测试

　　多年来，宽同步并行总线一直是在数字设备之间交换数据的既定的实现技术。但是，定时问题一直“折磨着”较高时钟频率和数据速率的并行总线，严重地限制了它们满足服务器和图形系统中更高速计算结构需求的能力...

AWG BIST 2008-04-08

没有ATE生成向量的精密测试(04-100)

　　消费类电子产品正在变得更复杂和更快速，因而使得测试成本成为问题。大的和复杂的SoC往往是消费类产品的心脏，不管它们的性能多么先进，其成本必须是低的。　　各种内装自测试(BIST)已应用于测试DUT(被测器件)的内...

BIST DUT 2008-04-01