芯测科技提供便捷版内存测试方案EZ-BIST

　　中美贸易战持续延烧，引发后续波及全球的贸易战争，当中更是突显知识产权合法的重要性。有鉴于此，深耕于开发内存测试与修复技术的芯测科技(iSTART-Tek，简称iSTART)为了协助客户对知识产权领域规避严重失信的风险，日前推出最新便捷版内存内建式自我测试(MBIST)测试方案「EZ-BIST」，适用于MCU相关的系统芯片开发商。采用芯测科技(iSTART)所提供低成本且高效率的内存测试开发工具，可协助客户快速的开发产品，避免忽略内存测试的细节而导致产品良率下降，而其适用的应用如触控屏、指纹辨识、语音识别、马达控制、家电控制、电子卷标等MCU相关的系统芯片。

　　图1、EZ-BIST 流程图

　　芯测科技(iSTART)秉持着帮助开发者以更简单、更快速、更低成本的途径实现SOC设计的初衷，提供优化的内存测试电路，从产品设计源头大幅提升测试良率，提高产业竞争力，先进的功能与友善的接口能大幅缩减测试成本与产品上市的时间，满足制造商的成本和产品可靠性的需求。

　　图2、EZ-BIST GUI界面图