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芯测科技提供便捷版内存测试方案EZ-BIST

作者:时间:2019-01-16来源:电子产品世界收藏

  中美贸易战持续延烧,引发后续波及全球的贸易战争,当中更是突显知识产权合法的重要性。有鉴于此,深耕于开发内存测试与修复技术的科技(iSTART-Tek,简称iSTART)为了协助客户对知识产权领域规避严重失信的风险,日前推出最新便捷版内存内建式自我测试(MBIST)测试方案「」,适用于MCU相关的系统芯片开发商。采用科技(iSTART)所提供低成本且高效率的内存测试开发工具,可协助客户快速的开发产品,避免忽略内存测试的细节而导致产品良率下降,而其适用的应用如触控屏、指纹辨识、语音识别、马达控制、家电控制、电子卷标等MCU相关的系统芯片。

本文引用地址:http://www.eepw.com.cn/article/201901/396815.htm

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  图1、 流程图

  科技(iSTART)秉持着帮助开发者以更简单、更快速、更低成本的途径实现SOC设计的初衷,提供优化的内存测试电路,从产品设计源头大幅提升测试良率,提高产业竞争力,先进的功能与友善的接口能大幅缩减测试成本与产品上市的时间,满足制造商的成本和产品可靠性的需求。

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  图2、 GUI界面图



关键词: 芯测 EZ-BIST

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