又踩厂商的雷了！1000多套板子要批量返工，说多了都是泪

前段时间群里有人找那个阻容降压的资料，阻容降压方案简单，便宜。老宇哥手把手教你分析阻容降压电路，你GET到了吗？但是 物料选型 还是有讲究的，做出来跟做的好还是很不一样的，做出来容易做好难。这个话题热心群友旺旺兄看到后，分享了他近期 遇到的坑，下面我们一起学习避坑。

这次踩的可是 厂商埋的雷！光这批量返工成本差不多八千块，还有一万五左右的成品及半成品要返工，到那时返工成本还得增加，哎！说多都是泪，大家直接看图1吧，就是下面这张QA验货开的异常单。

图1：QA异常单

大家看完异常单，是不是很想知道 损坏的电阻 在原理图哪个位置呢？这个电阻又 起什么作用 呢？别急，以下两张图告诉你！

图2：部分原理图

这是一个典型的 阻容降压 的电源电路，原理大家可以看之前详细介绍的一篇文章，关于R211电阻（上图2红框中），防浪涌冲击电阻。我司此产品设计此位电阻不需具备保险功能，当输出过载，RL201温度上升，达到F201熔断温度后断开即可达到保护之目的。

接下来大家看一下下面左图（标示金属皮膜的为QA验货测试损坏），能看出来两颗电阻有什么不同吗？其实我也看不出来有什么不同的了。那就看下面右图吧，两颗电阻刮了表面涂层后，内部明显有很大区别，厂商回复为新员工对生产工艺流程认知不足造成失误，对于库存此料号电阻全部退回厂商，后续再重新交货，返工造成的损耗成本均由厂商买单的处理，厂商也认可。

图3：金属皮膜跟绕线电阻的区别

测试标准：三种模式，L+N测试电压为±1000V；L+PE，N+PE测试电压为±2000V。各模式每个电压(±)分別打20次，每次20S；角度0°--270°，机台需能正常工作，且工作状态不能改变。

特指声明：以上SURGE测试标准仅代表我司实验室测试标准，大家不应以此作为自己产品测试标准依据，若以我司此标准测试，所造成的后果需自我承担。

现在以1/2W 100欧 R-MOF类型的电阻进行实机测试，以这个电阻测试的原因有三个：

1、1/2W 10欧 R-MOF类型的电阻（厂商失误引起的那颗电阻）曾经有测试，在不同的机种上，以L+N测试电压±1000V测试，一般30秒左右损坏，有的机甚至3秒内就损坏，在此不想再重复测试；

2、1/2W 10欧 R-MOF类型的电阻（厂商失误引起的那颗电阻）已全部退厂商；

3、1/2W 100欧 R-MOF类型的电阻在当初有客户委托生产的产品（别公司的产品）有用过，据客户市场部反馈，此电阻损坏较多，故在此进行下实验验证（因手头上无客户委托生产的产品，故只能以我司产品进行验证）。

备注：所测试产品无地线，L+PE，N+PE测试电压为±2000V免测

图4：SURGE测试电阻损坏

图5：客户的BOM

经以L+N测试电压为±1000V标准测试，均可通过，为检验此电阻耐受性，把测试电压调高一倍，-2000V可通过，+2000V约35秒即损坏，具体可看以下影像资料（负载灯熄灭时，电阻已损坏，可看图4）

因1/2W 47欧 R-KNP类型的电阻（如图4）在实际产品生产测试中可能由于接触不良造成打火，以致有个别损坏，故把损坏的1/2W 100欧 R-MOF电阻换成1/2W 47欧 R-KNP电阻进行实验验证，以±2000V测试，也可通过，由此可大概判断，同一机种在相同的测试条件下，R-KNP电阻耐受性要好于R-MOF电阻，在防浪涌电路设计中R-MOF电阻看来非首选。

最后再强调一下，以上测试均为我司实验室测试，SURGE测试标准仅代表我司实验室测试标准，大家不应以此作为自己产品测试标准依据，若以我司此标准测试，所造成的后果需自我承担。

金属膜电阻：是在真空中加热合金，合金蒸发，使瓷棒表面形成一层导电金属膜。改变金属膜的厚度可以控制阻值。这种电阻和碳膜电阻相比： 体积小、噪音低、稳定性好，但成本较高，金属膜电阻色彩亮丽，又可细分为高频、高压、精密的多种类型。多应用在精度要求较高的场合。

线绕电阻： 线绕电阻器阻值精确、工作稳定、温度系数小、耐热性能好、耐高压冲击、短时间过负载性能好、散热快、功率较大但其电阻值较小，分布电感和分布电容较大，制作成本也较高。适用于低频且精确度要求高的电路。

R-KNP绕线电阻检测规范

再次感谢旺旺兄提供的案例！

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