开篇前言关于SiC MOSFET的并联问题,英飞凌已陆续推出了很多技术资料,帮助大家更好的理解与应用。此文章将借助器件SPICE模型与Simetrix仿真环境,分析SiC MOSFET单管在并联条件下的均流特性。特别提醒仿真无法替代实验,仅供参考。1、选取仿真研究对象SiC MOSFETIMZ120R045M1(1200V/45mΩ)、TO247-4pin、两并联Driver IC1EDI40I12AF、单通道、磁隔离、驱动电流±4A(min)2、仿真电路Setup如图1所示,基于双脉冲的思路,搭建双管并
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MOSFET
高端变频空调在实际应用中出现大量外机不工作,经过大量失效主板分析确认是主动式PFC电路中IGBT击穿失效,本文结合大量失效品分析与电路设计分析,对IGBT失效原因及失效机理分析,分析结果表明:经过对IGBT失效分析及IGBT工作电路失效分析及整机相关波形检测、热设计分析、IGBT极限参数检测对比发现IGBT失效由多种原因导致,IGBT在器件选型、器件可靠性、闩锁效应、驱动控制、ESD能力等方面存在不足,逐一分析论证后从IGBT本身及电路设计方面全部提升IGBT工作可靠性。
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主动式PFC升压电路 IGBT SOA 闩锁效应 ESD 热击穿失效 202108 MOSFET
全球知名半导体制造商罗姆将于2021年9月9日~11日参加在深圳国际会展中心举办的PCIM Asia 2021深圳国际电力元件、可再生能源管理展览会(展位号:11号馆B39),届时将展示面向工业设备和汽车领域的、以世界先进的SiC(碳化硅)元器件为核心的产品及电源解决方案。同时,罗姆工程师还将在现场举办的“SiC/GaN功率器件技术与应用分析大会”以及“电动交通论坛”等同期论坛上发表演讲,分享罗姆最新的碳化硅技术成果。展位效果图罗姆拥有世界先进的SiC为核心的功率元器件技术,以及充分发挥其性能的控制IC和
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MOSFET
在电阻方面,电流流动的原理可以比作热从热物体流向冷物体时遇到的阻力。每种材料及其接口都有一个热阻,可以用这些数字来计算从源头带走热的速率。在整合式装置中,半导体接面是产生热的来源,允许接面超过其最大操作温度将导致严重故障。整合式装置制造商虽使用一些技术来设计保护措施,以避免发生过热关机等情况,但不可避免的是仍会造成损坏。一个更好的解决方案,就是在设计上选择抑制 (或至少限制) 会造成接面温度超过其操作最大值的情况。由于无法直接强制冷却接面温度,透过传导来进行散热是确保不会超过温度的唯一方法。工程师需要在这
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MOSFET
讨论了BUCK转换器的开通回路、关断回路的电流特性,具有高电流变化率di/dt的输入回路,以及具有高的电压变化率dV/dt的开关节点是其关键回路和关键 节点,使用尽可能小的环路,短粗布线,优先对其进行PCB布局。给出了多层板的信号分配原则,也给出了分立和集成的BUCK转换器的PCB布局技巧和一些实例,分析了它们的优缺点。
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PCB布局 磁场干扰 电场干扰 MOSFET 202108
1996年,ST开始与卡塔尼亚大学合作研发碳化硅(SiC),今天,SiC正在彻底改变电动汽车。为了庆祝ST研发SiC 25周年,我们决定探讨 SiC在当今半导体行业中所扮演的角色,ST的碳化硅研发是如何取得成功的,以及未来发展方向。Exawatt的一项研究指出,到2030年, 70%的乘用车将采用SiC MOSFET。这项技术也正在改变其他市场,例如,太阳能逆变器、储能系统、服务器电源、充电站等。因此,了解SiC过去25年的发展历程是极其重要的,对今天和明天的工程师大有裨益。碳化硅:半导体行业如何克服技术
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MOSFET
TRINAMIC Motion Control GmbH & Co. KG (Maxim Integrated Products, Inc子公司)近日宣布推出完全集成的TMC6140-LA 3相MOSFET栅极驱动器,有效简化无刷直流(DC)电机驱动设计,并最大程度地延长电池寿命。TMC6140-LA 3相MOSFET栅极驱动器为每相集成了低边检流放大器,构成完备的电机驱动方案;与同类产品相比元件数量减半,且电源效率提高30%,大幅简化设计。TMC6140-LA针对较宽的电压范围进行性
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MOSFET
近年来,在全球“创建无碳社会”和“碳中和”等减少环境负荷的努力中,电动汽车(xEV)得以日益普及。为了进一步提高系统的效率,对各种车载设备的逆变器和转换器电路中使用的功率半导体也提出了多样化需求,超低损耗的SiC 功率元器件(SiC MOSFET、SiC SBD等)和传统的硅功率元器件(IGBT、SJ-MOSFET 等)都在经历技术变革。在OBC(车载充电机)方面,罗姆以功率器件、模拟IC 以及标准品这三大产品群进行提案。罗姆半导体(上海)有限公司 技术中心 副总经理 周劲1 Si
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MOSFET 202108
本文总结了功率因素校正电路加旁路二极管作用的几种不同解释:减少主二极管的浪涌电流;提高系统抗雷击的能力;减少开机瞬间系统的峰值电流,防止电感饱和损坏功率MOSFET。具体分析了输入交流掉电系统重起动,导致功率MOSFET驱动电压降低、其进入线性区而发生损坏,才是增加旁路二极管最重要、最根本的原因。给出了在这种模式下,功率MOSFET发生损坏的波形和失效形态,同时给出了避免发生这种损坏的几个措施。
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功率因素校正 旁路二极管 线性区 欠压保护 202103 MOSFET
随着电力电子技术的飞速发展,传统负载测试电源性能的方法在高科技产品的生产中逐渐暴露出许多的不足之处。为了解决采用传统负载测试方法存在功耗较大、效率与调节精度低、体积大等问题,设计并制作一款适合随频率、时间变化而发生改变的被测电源的简洁、实用、方便的直流电子负载。系统主要由STC12C5A60S2单片机主控、增强型N沟道场效应管IRF3205功率管、矩阵按键、D/A和A/D电路等部分组成。实现了在一定电压与电流范围内恒压恒流任意可调,并通过LCD12864液晶显示屏显示被测电源的电压值、电流值及相应的设定值
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STC12C5A60S2单片机 恒流恒压 IRF3205 负载调整率 202105 MOSFET
新推出的80 V和100 V器件最大限度降低额定值,并改善均流,从而提供最佳性能、高可靠性并降低系统成本。基础半导体器件领域的专家Nexperia今日宣布推出新款80 V和100 V ASFET,新器件增强了SOA性能,适用于5G电信系统和48 V服务器环境中的热插拔与软启动应用以及需要e-fuse和电池保护的工业设备。 ASFET是一种新型MOSFET,经过优化,可用于特定应用场景。通过专注于对某一应用至关重要的特定参数,有时需要牺牲相同设计中其他较不重要的参数,以实现全新性能水平。新款热插拔ASFET
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Nexperia MOSFET
近日,瑞能半导体CEO Markus Mosen(以下简称Markus)的媒体沟通会在上海静安洲际酒店举行,瑞能半导体全球市场总监Brian Xie同时出席本次媒体沟通会。沟通会上首先回顾了瑞能半导体自2015年从恩智浦分离出后,从全新的品牌晋升为如今的知名国际品牌的过程中,在六年内保持的相当规模的成长,并取得的骄人成绩;结合瑞能半导体近期推出的第六代碳化硅二极管、碳化硅MOSFET、IGBT、TVS/ESD等多种系列产品,明确了在碳化硅器件行业内的领先地位;在分享后续发展策略的同时,强调了瑞能半导体未来
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MOSFET
相比于数字半导体,我国在模拟与功率半导体的差距要更大一些,因为功率器件不仅仅是产品设计的问题,还涉及到材料等多个技术环节的突破。其中第三代功率器件也是我们重点迎头赶上的领域之一。作为国内第三代半导体领军企业,基本半导体技术营销副总监刘诚表示,公司致力于碳化硅功率器件的研发与产业化,核心产品包括碳化硅肖特基二极管、碳化MOSFET和车规级全碳化硅功率模块等,基本半导体碳化硅功率器件产品性能处于国内领先水平。新能源汽车是碳化硅功率器件最为重要的应用领域,市场潜力大,也是基本半导体要重点发力的市场。站在刘诚的角
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基本半导体 MOSFET 中国芯
随着科技的发展,电器设备使用越来越广泛,功能越来越强大,体积也越来越小,对电源模块的要求不断增加。开关电源具有效率高、成本低及体积小的特点,在电气设备中获得了广泛的应用。经分析,开关电源电路多个器件失效主要是电路中高压瓷片电容可靠性差,导致开关芯片失效。本文通过增加瓷片电容材料的厚度提高其耐压性能和其他性能,使产品各项性能有效提高,满足电路设计需求,减少售后失效。
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开关电源 高压瓷片电容 芯片 耐压提升 可靠性 202105 MOSFET
针对在某特定工作条件下发生的短路失效问题,进行了开关电源模块及其外围电路的工作原理分析,通过建立故障确定了失效原因,运用原理分析与仿真分析的方法找到了开关电源模块的损伤原因与机理,并给出了对应的改进措施。
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开关电源模块 电源振荡 失效分析 MOSFET 202105
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