基于FPGA的高速A/D转换芯片ADC08D1000应用

　　(6)DES使能(地址Dh)

　　位15：DES使能：置“1”配置双边沿采样模式。置“0”配置单边沿采样模式。默认为“0”。

　　位14：自动时钟相位控制。置“1”时打开自动时钟相位控制，此时，DES粗调和微调失效。一个相位检测电路被用来保证I路和Q路的采样边沿相差180°。置“O”时关闭自动时钟相位控制，I路和Q路的采样边沿相位差由DES粗调和微调值来设定，默认为“0”。

　　位13：0，必须为“1”。

　　(7)DES粗调(地址Eh)

　　位15：输入选择，置“0”时I路用于双边沿采样，置“1”时Q路用于双边沿采样。默认为“0”。

　　位14：调整方向选择，置“0”时，I路滞后于Q路；

　　置“1”时，Q路滞后于I路。默认为“0”。

　　位13：11：粗调幅度，步进为20 ps。默认为“000”。

　　位10：0：必须为“1”。

　　(8)DES微调(地址Fh)

　　位15：7，微调幅度。步进为0．1 ps。默认为00h。

　　位6：0，必须为“1”。

　　以双边沿采样、650 mV(峰峰值)、低边沿SDR非低功耗模式为例，用VHDL语言配置如下：

　　4 结 语

　　ADC08D1000在满足超高速采样的情况下各种性能都有很好的表现。采样精度高，出错概率小，功耗较低，正常运行下功耗不超过1．6 W，低功耗模式下不超过20 mW。工作模式灵活，可以根据需要配置成多种工作方式。在卫星机顶盒、测量仪器、射频采样等中高端的各种需要高速采样的场合值得推荐使用。