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新一代0.30毫米间距芯片级封装(CSP)面临的组装和设计挑战

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作者:JonasSjoberg 时间:2013-12-26 来源:电子产品世界 收藏
编者按:本文将探讨间距为0.30-0.40mm的芯片级封装的各种设计与布局选择和组装与材料选择,以及各自面临的挑战。本文也着重探讨了不同的模具类型和浸渍材料以及空气与氮气回流焊。

  在证明印刷设计和流程设置可以实现可接受的Cp和Cpk数字以带来良好的良率之后,在不同模板和印刷参数和最佳的组合上进一步的研究。在研究(图6)中显示超高的Cp和Cpk数字和100%的组装良率。所有Cp和Cpk使用Minitab软件计算,使用Minitab的真正Cp和Cpk是Pp和PpK,因为这是整体计算功能。

本文引用地址:https://www.eepw.com.cn/article/203217.htm

  组装

  所有组装在标准的小间距安装机器上进行,在3西格玛时精度为40微米。0.30毫米间距中未检测到组装相关的缺陷,0.30毫米间距在空气和氮气中进行了处理,良率相当,但使用浸润流程时,需要氮气以确保全面的浸润和坍塌。

  回流焊

  使用了标准的无铅回流焊温度曲线,回流焊在空气和氮气中完成,65次在217ºC和245ºC峰值温度之上。之前在0.40毫米间距的研究表明,180-217ºC之间快速的1.0ºC/s和更高的温度提升呈现更好的浸润效果,这在0.3毫米间距上也得到了验证。在横截面,可以注意到一些互联出现枕头形焊接的倾向,而焊接连接没有浸润整个焊盘(图7)。这是在仅使用空气回流焊时担心的地方。根据这个结果,很明显0.30毫米间距CSP在焊液/浸润流程中需要氮气。如果0.30毫米间距CSP使用丝网印刷,空气回流焊可以完成,但流程窗口非常小,回流焊温度需要仔细的优化。尽管出现枕头形焊接,0.30毫米间距组装显示了良好的金属间(IMC)成型,厚度为2-4微米(图8)。

  结论

  有很多方式可以实现小型化,关键是有一套技术能够满足这些需求。根据产品的不同,可以考虑几个选项,而选择应基于数据而不是假设。0.30毫米间距CSP是可行的选择,但需要密切地控制设计指南、材料和组装流程。当在0.30毫米间距CSP上使用浸润流程时,目前需要氮气回流焊以实现高良率和高质量的焊接连接。 如果在0.30毫米间距CSP中使用丝网印刷,可以避免使用氮气,但模板厚度不能超过0.080毫米。包括模板选择、板托和板夹、选择和回流焊温度的丝网印刷流程需要优化和密切的流程控制。

  参考文献:

  [1]Geiger D A,Sjoberg J,Wong P,etal.FR-4基底上焊接倒装芯片的组装流程研究.APEX 2003会刊[C].加州Anaheim,2003
  [2]Shangguan D.封装与板组装技术趋势及其对供应链的影响.第六届IEEECPMT大会的主题演讲论文[C].中国上海:2004
  [3]Arra M,Geiger D,Shangguan D,etal.小间距CSP封装的SMT组装流程研究.焊接与表面安装技术[J].2004,16(3):16-21
  [4]Geiger D A,Sjoberg J,Wong P,etal.基底上倒装芯片的组装流程研究.Advanced Packaging[J].2003(11)
  [5]Geiger D A,Sjoberg J,Shangguan D,etal.FR-4基底上拥有不同PCB表面处理、底部充胶和焊液的无铅焊接倒装芯片.Semicon West 2004会刊[C].加州San Jose

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