新型的嵌入式存储器测试算法
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3．2 内部存储单元测试算法
内部单元的测试算法有Checkboard测试、MSCAN算法、March算法、GALPAT、跨步法等算法，本文对内部存储器单元进行测试，采用如图2所示的棋盘和跨步相结合的算法，在检测数据单元时采用棋盘图形，在检测地址译码时采用跨步图形，将棋盘测试法和跨步法各自的优点合二为一。本文引用地址：https://www.eepw.com.cn/article/149950.htm
4 测试结果
将本文所涉及的算法进行测试效率与故障覆盖率的分析，并将结果进行比较，如表2所列。其中d为地址线数目，n为数据线数目，M为待测存储器空间大小，一般M=2d。从表中可以看出这些算法的测试效率比典型的March算法效率高很多，三步法的测试复杂度只有4(n+d+1)，棋盘跨步相结合的算法的测试复杂度也有5M，在故障覆盖率也满足应用要求，完全可以为实际项目所采用。
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