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SiC MOSFET应用技术在雪崩条件下的鲁棒性评估

本文将探讨如何在雪崩工作条件下评估SiC MOSFET的鲁棒性。MOSFET功率变换器，特别是电动汽车驱动电机功率变换器，需要能够耐受一定的工作条件。如果器件在续流导通期间出现失效或栅极驱动命令信号错误，就会致使变换器...

MOSEFT VDS 2020-08-04

Verkotan采用罗德与施瓦茨的PWC技术进行5G NR OTA基站测试

测试与测量方案供应商罗德与施瓦茨（Rohde & Schwarz）近期推出了R&S PWC200，这是市场上第一款平面波转换器（PWC）。Verkotan是第一家选择此技术的独立测试机构，以空口（OTA）的方式测试5G ...

PWC OTA 2020-06-10

罗德与施瓦茨和联发科技共同验证 5G NR 动态频谱共享（DSS）

如今，4G LTE网络已经成功部署，从而6 GHz以下的频率被大量利用，如何在这些低频段上部署5G NR？这给全球网络运营商带来了新的挑战。动态频谱共享（DSS）是一种使移动网络运营商可以在同一频带中使用LTE和5G N...

DSS DUT 2020-03-27

鼎阳科技发布SSG5000X系列射频模拟/矢量信号源

近日，深圳市鼎阳科技股份有限公司发布SSG5000X系列射频模拟/矢量信号发生器。射频输出频率高达6 GHz, 内部基带源带宽150 MHz。SSG5000X 可作为本地振荡器（LO）,发射器（transmitter），...

LO 发射器 2020-03-02

CAN一致性测试隔离和非隔离供电的电路区别

　　汽车电子中有隔离和非隔离DUT，常用于在与发动机、BMS等容易产生瞬时高压的设备部分会采用隔离的通讯连接，隔离DUT的目的是为防止电磁干扰影响DUT通信信号以及瞬时高压脉冲损坏DUT;而非隔离DUT，则常用于与低压车...

CAN DUT 2019-03-02

利用FPGA实现原型板原理图的验证

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PCB DUT 2017-06-04

如何准确测量CAN节点的信号边沿参数

　　CAN总线设计规范对于CAN节点的信号边沿各项参数都有着严格的规定，如果不符合规范，则在现场组网后容易出现不正常的工作状态，各节点间出现通信故障。具体要求如表 1所示，为测试标准“GMW3122信号边沿标...

CAN DUT 2015-07-26

ICE时代正在悄然离去

　　硬件仿真是唯一一个可以部署在多个操作模式中的验证工具。事实上，它可应用于四个主要模式中，而且模式间的结合使用可以增加灵活性。基于以下两个特征对硬件仿真的应用模式进行分类：对映射到硬件仿真器中被测设计(DUT)的激励类...

ICE DUT 2015-05-07

理解RF器件性能测量过程中的纹波：理论与实验(下)

　　本小节将计算图1e所示介电模块多次反射的反射和传输系数。图2显示了该介电模块内正常入射层波多次相互作用情况。 ...

RF DUT 2014-04-01

理解RF器件性能测量过程中的纹波：理论与实验(上)

　　在RF器件参数描述(例如：增益、线性和回波损耗等)期间，我们有时会看到纹波。出现这些纹波的原因是，信号在线缆、连接器、评估板线路、受测器件(DUT)和封装内传播时存在多次反射情况。这些互连结点上的阻抗错配，导致这些纹...

RF DUT 2014-04-01

新的吉时利电源允许高达10kV的安全击穿测试

　　先进电气测试仪器与系统的世界级领导者-吉时利仪器日前宣布，推出两款优化的高压电源，用于高电压的设备和材料测试，高能物理和材料科学研究。2290-5 5kV型电源和2290-10型 10kV电源非常适合于功率半导体器件...

吉时利 2290 2014-03-20

吉时利推出经济型双通道与三通道可编程电源最高性价比产品

吉时利仪器公司，作为先进电性测试仪器与测试系统的行业领导者，日前宣布2200系列可编程直流电源又增加两款多通道电源产品。同现有竞争产品相比，这两款电源产品具有更大的输出准确度优势，不仅价格优势明显，而且提高了易用性，非常...

吉时利测量仪器 2012-10-10

支持4个双天线DUT的非信令2G/3G/LTE综测方案

智能手机和平板电脑的旺盛市场需求迫使生产线寻求更大吞吐量的无线综测解决方案，专攻生产线测试解决方案的Litepoint公司今年6月14日应时而动，推出了同时支持1、4和8部DUT的2G/3G/LTE智能手机和平板电脑无线...

方案 2G/3G/LTE 2012-10-05

基于NI TestStand 和LabVIEW开发模块化的软件架构

当今企业所面临的挑战之一是测试成本越来越高。由于设备的复杂性不断增加，所以测试这些设备的成本也在不断提高。因为测试对于产品质量至关重要,而更加复杂的电子设备需要更新式、更先进的测试仪器，所以产品的测试成本过高，无法与其较...

NI 测试系统 2012-07-09

如何提高射频测试仪的精度

电子产品世界,为电子工程师提供全面的电子产品信息和行业解决方案,是电子工程师的技术中心和交流中心,是电子产品的市场中心,EEPW 20年的品牌历史,是电子工程师的网络家园...

射频测试仪器射频测量 2012-01-30

把握六点助你提高RF微波测试正确性

RF微波测试正确性 2012-01-04

矢网Wiltron360B应用在RF仿真中的

矢量网络分析仪 Wiltron360B 2011-12-28

Multitest的MT9510通过XTC实现扩展温度控制

　　面向集成设备制造商(IDM)和最终测试分包商，设计和制造测试分选机、测试座、测试负载板的领先厂商Multitest公司，日前宣布欣然宣布其MT9510通过扩展温度校准(XTC)功能实现了扩展温度控制。　...

Multitest 测试负载板 2011-05-10

DDS信号源在扫频测试中的具体应用

电子设计中经常碰到的问题是对待测电路(DUT)传输特性的测试，这里所说的传输特性包括增益和衰减、幅频特......

DDS信号源扫频测试 2010-07-28

如何降低测试系统开关噪声(04-100)

　　为测试电子和机电器件设计开关系统所遇到的问题和设计产品本身一样多。随着器件中高速逻辑的出现以及与更灵敏模拟电路的连接，使得降低测试开关系统中的噪声比以前任何时候更加重要。　　本文所述的噪声降低技术准则是针对信号频...

测试噪声 2008-04-01

没有ATE生成向量的精密测试(04-100)

　　消费类电子产品正在变得更复杂和更快速，因而使得测试成本成为问题。大的和复杂的SoC往往是消费类产品的心脏，不管它们的性能多么先进，其成本必须是低的。　　各种内装自测试(BIST)已应用于测试DUT(被测器件)的内...

BIST DUT 2008-04-01

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