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如何降低您的测量成本？......
本文介绍DS1620的功能和使用方法，并给出C51的源程序。......
介绍Sames公司推出的三相功率/电量测量专用集成电路芯片（ASIC）SA9904B的结构、功能及其串行通信接口的时序；介绍该芯片在电力参数远程测控系统中的应用。......
在过去几十年中，数字设计人员一直把逻辑分析仪作为系统检验的主要工具。近年来，随着时钟速率的加快，迫使设计人员不得不考虑系统所有部分的信号完整性，包括测试能力。逻辑分析仪探头已不再象以往那样任意连接到系统上，就能够保证成功......
摘 要：本文介绍了一种利用DDS(直接数字频率合成技术)完成扫频测量的MPT变压器动态参数自动测试系统，给出了该系统的实现思路和软硬件结构。关键词：DDS；AD9850；扫频；自动测试......
日前，NI与清华大学加大合作力度，在精密仪器和机械系新建虚拟仪器联合教学实验室。 NI向该系授予了整套最新的LabVIEW软件使用权，并捐赠了其他NI软件以及完整的硬件平台，包括多套PCI数据采集设备、NI E......
编者按：本文介绍了通过使用美国NI公司的LABWINDOWS软件和相应的硬件设施(NI-5112、PXI-8156B、NI-5411、PXI-6070E、NI-2503)，完成对汽车电喷模块(EFI)输入/输出口的硬件测......
2004年6月A版 开放式体系结构的概念在2002年的夏季已经是公开的秘密。鉴于降低测试成本的前景，媒体和ATE用户对它产生了极大的兴趣，也引起ATE供应商们极大的关注。毫无疑问，一个设计良好的开放式体系结构系统会......
电子设计应用2004年第9期摘 要：为保证硬件和系统软件应用程序的兼容性、可靠性和高可用性，在系统开发和测试阶段，需要迅速发现并准确定位硬件或软件中存在的问题，对嵌入式系统进行离线测试......
2004年电子设计应用第10期随着半导体工艺不断地进步，那些原本存在芯片中的大型存储器会转变成数十或数百个小型的存储器阵列，并且散布在芯片中各个角落。这些阵列有的是寄存器堆，FIFO，或者是在存储器管理系统中一些对性能要......
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