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IBERT在FPGA中的应用

作者: 时间:2012-08-27 来源:网络 收藏

为确定高速串行接口的参数是否满足硬件及多种环境的需求,可通过在对端器件高速串行接口设置远端环回,设置待测试芯片的收发data pattern为统一模式,常温及高低温拷机,观察误码率是否满足要求,误码率需满足E-10。例中与图6对应的参数值条件下,对端器件高速串行接口设置远端环回误码率为4.36E-10,满足误码率要求。

本文引用地址:https://www.eepw.com.cn/article/190002.htm

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Sweep Test Setting(扫描测试)其配置页面如图7所示,以Rx Sampling Point来进行误码率测试定性分析信道质量为例,较为容易理解,当同定在某个采样点进行误码测试时,误码率达到E-10时,可判定信道质量良好。在整个UI范围内进行采样点的扫描测试时,误码率达到E-10的采样点越多,信号眼图的眼睛张得越大,距离模板的余量越大,信道质量越好。

3 结束语
通过以上实例,可见具有可操作性较强的GUI图形界面,可操作性强、准确、易用,可方便地设置高速串行收发通道的各项参数,并提供了多种环回模式及多种测试激励源,并可通过自动扫描测试,确定收发的最佳参数。可以满足硬件测试时对高速串行收发通道信号测试的大部分需求,在故障定位等场合均可使用。在单板的硬件测试初期,使用可以辅助硬件测试,例如设置发送通道的各项参数,协助示波器测量信号质量,而完全不需额外的开发逻辑。进行误码率测试,作为定量测量眼图质量、jitter等指标的补充。从示波器看图确定出的参数并非就是最佳参数。如示波器对于均衡后的信号质量无法测试,而通过测误码率能够测试到均衡之后的节点,测试范围更大。可以预见,集成比特误码测试仪IBERT将在设计中获得广泛应用。

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关键词: IBERT FPGA 中的应用

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