一种求解每个热源功率损耗的新方法

　　根据测试结果和等式 （2）：

　　P1 + P3 + P4 = 1.538W

　　新方法给出的结果是：

　　P1 + P3 + P4 = 1.507W （13）

　　热学方法和电工学方法之间的结果差异是由小热源造成的，如PCB印制线和电容器的ESR。

　　分立式降压转换器

使用上述步骤和图3，我们获得了分立式方案的S矩阵，不过没有考虑驱动IC的功率。

　　使用上面图4提供的信息，我们可以得到在Vin = 12V, Vo =1.3V, Io = 8A, Fs = 1MHz条件下的功率损耗。

　　P₁ = 0.228W, 电感器

　　P₂ = 0.996W, 高边 MOSFET

　　P₃ = 0.789W, 低边 MOSFET

　　比较等式（18）和等式（22），我们发现，由于两个电路使用相同的电感器，两个电路具有同样的电感器损耗，这个结果和我们预想的一样。尽管分立方案中低边和高边MOSFET的rDS（on）比集成式方案MOSFET的rDS（on）分别小23％和28％，集成式降压解决方案的损耗仍然比分立式降压方案的损耗要低。

　　我们可以认定，集成式方案的频率更低，而频率则与功率损耗相关。

五 总结和结论

　　测量高频DC-DC转换器功率损耗的新方法使用了直流功率测试，和一个热成像摄像机来测量PCB板上每个热源的表面温度。用新方法测得的功率损耗与用电工学方法测得的结果十分接近。新方法可以很容易地区分出象MOSFET这样的主热源，和象PCB印制线及电容器的ESR这样的次热源的功率损耗。试验结果表明，由于在低频下工作时的损耗小，高频集成式DC-DC转换器的整体功率损耗比分立式DC-DC转换器要低。