THS4271集成电路实验特性及其应用
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3．4 开环差模放大倍数
由于集成运放的开环电压放大倍数很高，难以直接进行测量，一般采用闭环电路。Aud的测试方法很多，现采用交，直流同时闭环的测试方法，如图4所示。被测运放一方面通过Rf，R1，R2完成直流闭环，以抑制输出电压漂移，另一方面通过Rf和Rs实现交流闭环，外加信号Us经R1、R2分压，使Ui足够小，以保证运放工作在线性区，同相输入端电阻R3应与反相输入端电阻R2相匹配，以减小输入偏置电流的影响，电容C为隔直电容。被测运放的放大倍数Aud=UO／Ui=(1+R1+R2)*UO／Ui，经实验测试，Aud=50．81dB。本文引用地址：https://www.eepw.com.cn/article/176881.htm
3．5 测试时需要考虑的问题
3．5．1 输入信号选择
交直流均可，但要注意所选信号频率和幅度，同时考虑运放的频率响应特性和输出幅度的限制。运放工作在非线性区，输入频率过高，幅度过大等都会导致测量结果的偏差。
3．5．2 调零
为提高运算精度，在运算前，应首先对直流输出电位进行调零，即保证输入为零时，输出也为零。因THS4271没有调零端子，实验时如果需要调零可采取如图5中的(a)，(b)两种方式进行，只需按组件要求接入调零电位器RP，细心调节RP，使UO为零，即可实现调零。输入端失调值为零，也会减小对测量数据的影响。
3．5．3 消振
集成运放自激时，表现为输入为零，也会有输出，使运放的各种运算功能无法实现，严重时还会损坏器件。消振方法：可以通过外接RC补偿电路；合理布局电路走线和元器件位置以减少分布电容；在电源线和地之间接入适合的电容减小电源引线的影响。
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