THS4271集成电路实验特性及其应用
加入技术交流群
3 测试电路，数据及分析
3．1 输入失调电压测量
失调电压测试电路原理图如图2所示。闭合开关S1及S2(实验时用导线代替)，使电阻Ra短接，测量此时的输出电压UO即为输出失调电压，换算到输入端，可得输入失调电压UIO=R1·UO／(R1+Rf)，经实验测量UO=385 mV，带入上式可得UIO=3．85mV。本文引用地址：https://www.eepw.com.cn/article/176881.htm
3．2 输入失调电流测量
输入失调电流IIO的大小反映了运放内部差动输入级两个晶体管β的适配度，由于IB1和IB2本身的数值很小(大约在微安级别)，因此他们的差值通常不是直接测量的，测试电路原理如图2所示。
IIO的测量分两步：
1)闭合开关S1和S2，在低输入电阻下，测出输出电压为UO1，其中UO1=(R1+Rf)·UIO／R1，如前所述，这就是由输入失调电压UIO引起的输出电压。
2)断开S1和S2，两个输入电阻RB接入电路，测得此时的输出电压为UO2。由于RB阻值较大，流经它们的输入电流IB1、IB2的差异将变成输入电压的差异，即IIO·RB=|IB1-IB2|·RB，考虑同时存在的输入失调电压的影响，可得UO2=(UIO+IIO·RB)·(R1+RF)／R2。
综上所述，将两次测得的数据UO1=0．392 V和UO2=0．693 V代入IIO=(UO2-UO1)·R1／RB(R1+Rf)，即可得到电路的输入失调电流IIO=11 1．16 nA。
3．3 共模抑制比测量
共模抑制比测量电路如图3所示。集成运放在闭环状态下的差模电压放大倍数为Ad=Rf／R1，当接入共模输入信号幅值为UiC时，测得输出幅值为UOC，则共模电压放大倍数为Ac=UOC／UIC，得到共模抑制比CMRR=Ad／AC=Rf·UIC／(R1·UOC)。实验测得，Ac=2.4，则CMRR=32.4 dB。
pic相关文章:pic是什么
评论