嵌入式系统中存储器性能研究
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2 测试用数据
由前节讨论可知，动态内存除了内存单元，还有地址译码器，选择器，控制器，放大器等部件。为此针对不同的部件，设计了不同的数据和读写方式来进行测试。
2．1 普通数据
普通数据就是全“0”或者全“1”。写入全“0”或者全“1”的数据，然后读取校验，来验证内存单元是否正常工作。
2．2 棋盘数据
图4表示了棋盘数据。在内存单阵列中写入如国际象棋棋盘一样的数据。由于与每一位数据相邻的数据都不一样，棋盘数据可以用来检测内存单元间的泄漏。本文引用地址：https://www.eepw.com.cn/article/149522.htm
2．3 行带状数据
图5表示了行带状数据。采用行带状数据可以检测Word线之间的泄漏。
2．4 列带状数据
图6表示了列带状数据，用来检测Bit线(数据线)之间的泄漏。
2．5 移位数据
读取内存数据时，Word线选中一行内存单元，数据还要通过选择器，经过列地址选择，到达数据线。使用移位数据，使得每次只有一个数据引脚为1，其余都为0，检测相互是否有影响。
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