新闻中心

EEPW首页 > 元件/连接器 > 新品快递 > rSRAM消除“软错误”对电子系统的威胁

rSRAM消除“软错误”对电子系统的威胁

作者:eaw时间:2005-04-28来源:eaw收藏
意法半导体()公布的一项新技术rSRAM,完全可以消除近年来不断困扰电子设备制造商的 “软错误”难题。由于该技术对标准SRAM存储单元的改进方法是在单元结构内以垂直方式增装附加电容器,因此,芯片面积以及制造成本都不会受到较大的影响。www.st.com

关键词: ST 存储器

评论


相关推荐

技术专区

关闭