新闻中心

EEPW首页 > 嵌入式系统 > 设计应用 > 基于ARM的石英晶体测试系统中DDS信号源设计

基于ARM的石英晶体测试系统中DDS信号源设计

作者:时间:2014-04-07来源:网络收藏

摘要 针对π网络石英晶体参数测试系统,采用以STM32F103ZET6型为MCU控制产生激励信号。该测试系统相对于传统的PC机测试系统具有设备简单、操作方便,较之普通单片机测试系统又具有资源丰富、运算速度更快等优点。AD9852型控制下能产生0~100 MHz扫频信号,经试验数据分析得到信号精度达到0.5×10-6,基本满足设计要求。该系统将以其小巧、快速、操作方便、等优点被广泛采用。

本文引用地址:http://www.eepw.com.cn/article/235994.htm

关键词 石英晶体;;AD9852;STM32F103ZET6

产生正弦激励信号一般可以通过振荡电路或直接数字频率合成器(Direct Digital Frequency Synthesis,DDS),DDS较振荡电路具有相位噪声小、杂散抑制好、可产生连续波信号、扫频信号和频率捷变信号等优点。石英晶体电参数测试中激励信号的指标如幅度、频率的稳定性对后续的测量精度至关重要。所以系统采用AD9852型DDS作为信号源。石英晶体电参数测试系统中,DDS可以同时产生多路正弦信号,并可对信号的频率、幅度、相位精确控制,用以测量石英晶体电参数,随着对石英晶体频率精度的要求越来越高,DDS的信号源设计及控制具有重要现实意义。

1 π网络法测试原理

在串联谐振状态下,石英晶体等效电路模型如图1所示,C0为静态电容;L1为动态电感;Rr是串联谐振电阻;C1为动态电容。

 

 

其等效阻抗为

 

b.JPG

 

式中,ω为信号源所输出信号的角频率,ω=2πf;Zs为π网络的等效阻抗。根据式(1)可以画出石英晶体阻抗一频率特性曲线如图2所示,f0为石英晶体的串联谐振频率,f1为并联谐振频率,本系统需要测量石英晶体的串联谐振频率。

 

 

由图2可以看出,当信号源频率为f1时,石英晶体的阻抗最小;当信号源频率为时石英晶体的阻抗最大。利用这个特性可以得到石英晶体的串联谐振频率、并联谐振频率等参数。石英晶体电参数测试方法有3种:阻抗计法、π网络最大传输法、π网络零相位法。π网络最大传输法是将石英晶体插入一个π网络中,不断改变π网络一端激励信号的频率,在另一端测量输出信号电压值,当电压达到最大值时的频率即为串联谐振频率。其特点是测试设备较复杂,不易捕获峰值电压时的频率,精度较高;π网络零相位法原理;π网络零相位法是将石英晶体插入一个π网络中,在一端不断输出扫频信号,用矢量电压表检测π网两端的相位差,当相位差为零时的频率即为串联谐振频率。π网络最大传输法与π网络零相位法的主要差别是没有鉴相电路,将这两种方法统称为π网络法。


上一页 1 2 3 下一页

关键词: ARM DDS

评论


相关推荐

技术专区

关闭