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厚翼科技推出实时非易失性存储器测试与修复解决方案

作者:时间:2017-06-24来源:电子产品世界

  目前 SoC 设计对于各类内存( RAM、 ROM、 NVM、 DRAM、Embedded DRAM) 需求的比重越来越大, 以车用电子与物联网产品而言, 使用 非易失性内存 ( Non-Volatile Memory; NVM) 的比重与容量都已经大幅提升。 随着车用电子与物联网产品需求的带动,系统芯片的质量、可靠性与低成本是现 今系统芯片( System on Chip; SoC)设计业者所面临艰巨的挑战。 (HOY Technologies,简称 HOY)所创新的『实时非易失性内存测试与修复技术( OnDemand NVM Testing and Repairing Technical)』 可以针对芯片内的 NVM 进行 重复且可靠的检测与修复,提高产品的可靠度,提高芯片的质量,增加产品竞争力。

本文引用地址:http://www.eepw.com.cn/article/201706/360931.htm

  以车用电子芯片而言,此类芯片出厂前都必须经过精密内存的检测工程,确保此 类芯片的可靠度;以物联网相关的芯片来说,此种芯片强调的是价格与可靠度,目 前绝大部分的物联网芯片都会使用 NVM 来降低成本,可是 NVM 的测试必须仰赖机台( Automation Test Equipment; ATE)测试,而且测试时间很长,如何降低NVM 的测试费用与提高可靠度是此类芯片供货商急需解决的问题。

  过去如果芯片遇到 NVM 缺陷的问题时,一般的作法就是使用修正错误( ErrorCorrecting Code; ECC)的方式实现内存错误检查和纠正错误, 但是考虑实现成本, ECC 仅能实现一个位( bit)的错误纠正,例如, 数据位是 8 位,则需要增加5 位来进行 ECC 错误检查和纠正。数据位每增加一倍, ECC 需增加『 一位元』检验位。也就是说当数据位为 16 位时 ECC 位为 6 位, 32 位时 ECC 位为 7位,数据位为 64 位时 ECC 位为 8 位,依此类推。如果要做到精准的纠正,在实现 ECC 时需要占用很大的 Gate Count,想要进行『多』位纠正,就设计成本考虑而言,并不容易实现。

  采用的『 实时非易失性内存测试与修复技术( On-Demand NVM Testing and Repairing Technical)』,可以在最精简的 Gate Count 下完成整个Page 的修复,并且整个 NVM 检测时间可以大幅缩短,因为在芯片出厂前的检 测流程时, ATE 仅需要送出启动讯号给实时非易失性内存测试与修复硅智财, 实时非易失性内存测试与修复硅智财就会利用芯片内部的时钟( Clock)进行NVM 的检测与修复。 此外,当芯片在『 使用中』出现 NVM 的缺陷的时候, 实 时非易失性内存测试与修复硅智财还可以透过 MCU/CPU 来驱动 NVM 的检测 和修复, 达到实时修复的效果。采用的『 实时非易失性内存测试与修 复技术』之后, 芯片的使用性绝对可



关键词: 厚翼科技 存储器

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