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SEB

SEB是singl event burnout的缩写，中文译为单粒子烧毁 Single event burnout (SEB) is a condition that can cause devicedestruction due to a high current state in a power transistor。 SEBcauses the device to fail permanently。 SEBs include burnout of powerMOSFETs， gate rupture， frozen bits， and noise in CCDs (charge-coupleddevices)。 SEB of power MOSFETs was first reported by Waskiewiczet al。查看更多>>

  • SEB资讯

意法半导体发布新抗辐射加固器件，提高航天应用能效

SEB 半导体 2020-05-14

功率MOSFET抗SEB能力的二维数值模拟

二维数值 模拟 2012-03-06
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