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可靠性测试资讯

CMOS可靠性测试：脉冲技术如何助力AI、5G、HPC？

在半导体领域，随着技术的不断演进，对CMOS（互补金属氧化物半导体）可靠性的要求日益提高。特别是在人工智能（AI）、5G通信和高性能计算（HPC）等前沿技术的推动下，传统的可靠性测试方法已难以满足需求。本文将探讨脉冲技术...

CMOS 可靠性测试 2025-04-08

CMOS可靠性测试新趋势：脉冲技术如何助力AI、5G、HPC？

对于研究半导体电荷捕获和退化行为来说，交流或脉冲应力对典型的应力测试是一个有用的补充。NBTI（负偏置温度不稳定性）和TDDB（随时间变化的介电击穿）试验包括应力/测量循环。所施加的应力电压通常是一个直流信号，使用它是因...

脉冲电压可靠性测试 2025-03-26

Hold住吗?最强LED照明可靠性测试详解!

作为光源中的新兴力量，led的发光方式与传统光源截然不同。它是利用半导体PN节中的电子与空穴的复合来发光。......

Hold LED照明 2014-01-14

硅片级可靠性测试详解

　引言　　硅片级可靠性（WLR）测试最早是为了实现内建（BIR）可靠性而提出的一种测试手段。硅片级可靠性测试的最 ......

硅片级可靠性测试 2013-11-30

晶圆级可靠性测试:器件开发的关键步骤（二）

可靠性测试仪器的发展趋势　　就像前文所指出的那样，可靠性测试需要与新器件的设计和新材料的使用密切关联 ......

晶圆级可靠性测试 2013-11-30

晶圆级可靠性测试:器件开发的关键步骤（一）

摘要随着器件尺寸的持续减小，以及在器件的制造中不断使用新材料，对晶圆级可靠性测试的要求越来越高。在器件 ......

晶圆级可靠性测试 2013-11-30

可靠性测试专栏

可靠性测试资料

IGBT的质量和可靠性测试

onsemi 安森美 2022-10-11 立即下载

可靠性测试论坛

04-22 原来HALT&HASS试验在我们不注意时已成为汽车企业的得力助手啦！你想知道它是如何为汽车企业服务的吗？

deanwell|浏览：825|回复：0| deanwell 2022-04-22 11:22:25

08-07 芯片开封检测

失效分析|浏览：1533|回复：0| 失效分析 2019-08-07 16:19:40

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