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EEPW首页 >> 主题列表 >> dfm

CAM350中关于DFM检验应用

  • 这些功能大部分都集中在Analysis菜单下。  1. Silk to Solder Spacing  这是软件自动检验丝印层与阻焊层间距的功能。Analysis -> Silk to Solder Spacing就会弹出“Check Silkscreen”对话框。  首先
  • 关键字: CAM  350  DFM    

利用LTCC的DFM方法来实现一次设计成功

  • 低温共烧陶瓷(LTCC)电路技术支持紧凑型多层设计并被广泛用于无线应用,特别是在RF模块和包内系统(SiP)设计中。相对于层压技术,它具有一系列优势,尽管其工艺与层压印刷电路板材料的处理工艺类似。其典型好处是较低的
  • 关键字: 一次  设计  成功  实现  方法  LTCC  DFM  利用  

PCB可制造性设计分析(DFM系统)

  • 中心议题: 可制造性设计(DFM)流程 可制造性设计(DFM)工具 解决方案: 产品PCB制作 产品零部件组装 产品成品测试
    “DFM”-一个由三个字母组成的缩写,其意义依据你在设计及制造流程链中所扮演的角色不同而不同
  • 关键字: PCB  DFM  可制造性  设计分析    

年首次PCB设计师活动日邀请函

  •   时间: 2010年3月17日   地点: 上海东锦江索菲特大酒店   IPC设计师理事会中国分会将于2010年3月17日举办2010年度首次PCB设计师活动日。此次活动日将邀请二位理事会的国内专家及一位IPC总部的PCB设计专家做有关PCB设计的专题演讲。   三位专家将在设计师活动日做精彩演讲,与理事会成员共享交流他们在PCB设计领域的经验。   诚邀您的光临!   1. 日程安排 IPC设计师理事会中国分会2010年首次PCB设计师活动日日程安排
  • 关键字: PCB  DFM  CAD  

摩尔定律持续作用 FPGA正改变系统设计未来

  •         现在,重新可编程成为产品设计团队所必备的能力,他们充分利用这一能力尽快将产品推向市场,尽量延长产品在市时间。FPGA的功能、容量、性能在不断提高,而功耗和成本显著下降,足以成为大批量、低成本应用非常可靠的选择方案之一。         对于采用了单芯片方案且面向全球市场的新产品,应能为不同区域市场提供各种各样特性的产品。从工业、消费类到军事
  • 关键字: 重新可编程  FPGA  DFM  Altera   

Cadence为TSMC提供高级可制造性设计(DFM)解决方案

  •   Cadence设计系统公司宣布其多种领先技术已经纳入TSMC参考流程9.0版本中。这些可靠的能力帮助设计师使其产品更快地投入量产,提供了自动化的、前端到后端的流程,实现高良品率、省电型设计,面向晶圆厂的40纳米生产工艺。   Cadence已经在多代的工艺技术中与TSMC合作,开发参考流程,提供低功耗设计能力和高级DFM方法学。通过参考流程9.0,Cadence将这些性能拓展到该晶圆厂的40纳米工艺节点,使用光刻物理分析和强化的统计静态时序分析能力,此外一直追随TSMC参考流程的Cadence已经支
  • 关键字: Cadence  晶圆  设计  DFM  低功耗  

Cadence多种领先技术纳入TSMC参考流程9.0版本

  •   全球电子设计创新企业Cadence设计系统公司(NASDAQ: CDNS)今天宣布其多种领先技术已经纳入TSMC参考流程9.0版本中。这些可靠的能力帮助设计师使其产品更快地投入量产,提供了自动化的、前端到后端的流程,实现高良品率、省电型设计,面向晶圆厂的40纳米生产工艺。   “TSMC和Cadence之间的合作提供了自动化的设计技术,这是在高级工艺节点上实现低风险和快速量产的必要技术,”TSMC设计基础架构营销部高级主管S.T. Juang说。   Cadence已经在多
  • 关键字: Cadence  TSMC  DFM  

65nm后,DFM的作用将逐步体现

  •   IC芯片产业在进入纳米时代后,生产工艺复杂度和物理极限等局限开始挑战被称为定律的“Moor’s Law”。同时,EDA技术的发展不但完全融入到电子产品的设计和定型过程中,并且开始涉足包括存档、生产、制造、测试等环节,帮助IC产业迎接工艺极限的挑战。   作为EDA行业的佼佼者,Mentor Graphics公司一年一度的“Mentor Graphics EDA Tech Forum 2007”备受关注。今年的技术论坛以 “洞悉您最复杂的设计挑战!”为主题在全球18个城市巡回开展。8月31日,Ment
  • 关键字: 嵌入式系统  单片机  0710_A  杂志_业界风云  DFM  MCU和嵌入式微处理器  

迎接纳米级IC设计挑战 DFM应成为普及化概念

  • 有鉴于半导体产业正试图解决可制造性设计(DFM)问题,参与月前在美国举行之SemiconWest展会上的一场小组座谈的EDA产业专家表示,可以从可测试性设计(design-for-test,DFT)的技术发展历程中取经。     该场小组座谈会的主持人、市场研究公司GarySmithEDA总裁GarySmith表示:「真正的DFM是个大问号,如果它跟随DFT的脚步,得花上几年时间才能在设计社群中扎根。」他指出,半导体公司基本上是把DFT强迫推销给设计工程师
  • 关键字: 嵌入式系统  单片机  纳米  IC  DFM  嵌入式  

数字IC设计平台的最新软件版本

  • CADENCE发布了Cadence Encounter 数字IC设计平台的最新软件版本,增加了业内领先的功能特性,包括全芯片优化、面向65纳米及以下工艺的超大规模混合信号设计支持,具有对角布线能力的Encounter X Interconnect Option,以及之前已经公布支持的基于Si2通用功率格式(CPF)1.0版本的低功耗设计。新平台提供了L、XL和GXL三种配置,为先进半导体设计提供更佳的易用性,更短的设计时间以及更高的性能。 “最新版本Enc
  • 关键字: CADENCE  DFM  ENCOUNTER  电源技术  模拟技术  EDA  IC设计  

Synopsys公司发布DFM新系列产品

  • 解决45纳米及以下工艺相关变异问题 创新的工艺识别DFM系列产品有助于设计者减少工艺变异的影响, 改善先进半导体的制造设计 全球领先的电子设计自动化(EDA)软件工具领导厂商Synopsys推出了具备工艺识别功能的可制造性设计(DFM)新系列产品PA-DFM,用于分析45纳米及以下工艺定制/模拟设计阶段的工艺变异的影响。随着工艺尺寸的日益减小,先进硅技术将引起更多如应力工程的变异问题,这将越来越影响电路的性能。Synopsys PA-DFM系列的核心产品Seismos 和 P
  • 关键字: DFM  Synopsys  通讯  网络  无线  
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dfm介绍

  DFM(Design for Manufacture)是指可制造设计,过去在芯片设计流程中,IC设计业者将电路设计交由晶圆代工厂生产的垂直分工,在进入先进制程技术时遇到了困难,原因是制程技术愈来愈复杂,设计与生产之间的整合沟通必须更加紧密,因此,IC制造业者必须有套完整的DFM,让IC设计业者得以用其中的设计流程等规范早期便融入设计IC阶段中,以提升芯片的设计、生产效率。因此,从制造者的观点, [ 查看详细 ]

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