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今天宣布富士通半导体有限公司现正使用Calibre® PERC产品进行电气规则检查从而提高其集成电路设计在投产之前的准确性和可靠性。该产品基于用户制定的规则自动进行电气检测，通过检测和识别芯片在工厂测试、运输和现场工......
同惠电子凭借在电子元件测试领域的深厚功底，新近推出了TH2822系列新一代高性价比的手持式LCR数字电桥。0.25%的测量准确度、最高100kHz测试信号频率、主参数40000字读数，D/Q 0.0001的分辨率、4......
1965年，Intel的创始人之一戈登•摩尔(Gordon Moore)指出，自从1958年集成电路问世以来，集成电路上的元件个数每年翻一番。 五年后，这个发现被叫做摩尔定律，它以预测元件数每18个月翻一番而闻......
由《电子技术应用》主办的“2010年度优秀电子产品”评选活动近日揭晓，北京中科泛华测控技术有限公司(简称：泛华测控)榜上有名。由该公司自主研发的智能角度位移传感器测试系统喜获“最佳产品奖”。 ......
美国国家仪器有限公司(National Instruments，简称NI)最近推出了全新3.6GHz RF矢量信号分析仪(VSA)NI PXIe-5665，该PXI产品性价比高，且RF性能为同类产品中最佳。这款全新矢......
Multitest在2011年3月15日至17日在上海新国际博览中心举办的SEMICON China 2011展示一系列先进的产品和解决方案，并举办“测试成本高级研讨会”。 ......
“给力2011, 力科在您身边”，力科公司将在未来两个月时间在中国的21座城市巡回举办以“调试与分析”为主题的巡回技术研讨会暨新产品体验。 首场将于2011年3月21日......
美国国家仪器有限公司(National Instruments，简称NI)近日推出支持Windows操作系统和Camera Link接口的NI嵌入式视觉系统(NI Embedded Vision System)，为制......
新年伊始，北京中科泛华测控技术有限公司(简称;泛华测控)携2010年度优异业绩和对客户深深的感激之情，分别在北京(1月7日)和上海(1月12日)两地举办了“2011年泛华测控行业技术论坛暨客户答谢会”。会议以“多面泛......
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