本文提出，CMOS开关可以取代自动测试设备(ATE)厂商使用的PhotoMOS®开关。CMOS开关的电容乘电阻(CxR)性能可以与PhotoMOS相媲美，且其导通速度、可靠性和可扩展性的表现也很出色，契合了先进内存测试时代ATE厂商不断升级的需求。
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自动测试设备 PhotoMOS ADI
组件电源（DPS）IC能够弹性加载电压、加载电流，为自动测试设备（ATE）提供动态测试能力。当负载电流在两个可编程电流限值之间时，DPS IC为电压源，并且在达到设定的电流限值时平稳转换为精密电流源/灌电流。图一为ADI新一代组件电源IC MAX32010的简化框图。开关FIMODE、FVMODE和FISLAVE MODE选择不同的工作模式，例如：加载电压（FV）、加载电流（FI）和FI Slave模式；开关HIZF和HIZM分别选择MV （电压测量）和MI （电流测量）模式。RANGE MUX与外部检流
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自动测试设备 组件电源 ADI
Boston Semi Equipment Group（BSE 集团）旗下公司 Test Advantage 宣布已经收购了位于菲律宾的一家面向自动测试设备 (ATE) 市场的硬件维修中心 Microstats, LLC。这两家公司将整合它们的产品、解决方案和共同的客户群，以增强 Test Advantage 在后端半导体市场的产品和服务。
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Test Advantage Microstats 自动测试设备
首屈一指的半导体测试公司惠瑞捷股份有限公司(纳斯达克代号：VRGY)，本次于半导体业界之主要研究暨分析公司VLSIresearch所举办的2011年客户满意度调查中荣膺“最佳测试设备供应商“与“10大最佳晶片制造设备大型供应商“等两大奖项的肯定。
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惠瑞捷 自动测试设备
为了向半导体行业提供融合了设备专长与创新金融解决方案的独特组合，业内资深人士 Douglas Elder、Bryan Banish、Colin Scholefield 和 Sandy Garrett 今天宣布创办 Boston Semi Equipment, LLC(BSE 集团)。BSE 集团由私人集资，其目标是在半导体设备行业设定新的基准，将创新金融解决方案与经验、专长和基础设施结合起来，以支持全新和二手半导体生产设备的租赁、销售、订制改造和服务。
传统的资本设备融资解决方案过去一直无法支持
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半导体设备 自动测试设备
摘要：SOC已经成为集成电路设计的主流。SOC测试变得越来越复杂，在设计时必须考虑DFT和DFM。本文以一SOC单芯片系统为例，在其设计、测试和可制造性等方面进行研究，并详细介绍了SOC测试解决方案及设计考虑。
关键词：单芯片系统；面向测试设计；面向制造设计；位失效图；自动测试设备
引言
以往的系统设计是将CPU，DSP，PLL，ADC，DAC或Memory等电路设计成IC后，再加以组合变成完整的系统，但现今的设计方式是
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SOC 单芯片系统 面向测试设计 面向制造设计 位失效图 自动测试设备
自动测试设备介绍
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