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新的失效保护方法

作者: 时间:2009-06-18 来源:电子产品世界 收藏

  解决方案

本文引用地址:https://www.eepw.com.cn/article/95416.htm

  该解决方案是实现一个能够仿真的I2-t特性的智能电路保护算法。这个概念可转化为“曲线下面积”。在下图(图 7)中,曲线下面积(A区)是保护算法的I2-t界限内。B区所示是在一段时间内的恒定超负载条件,其中,超负载电流小于智能开关的限流值。在这个图中,当限流值超过曲线时,智能开关不会被闭锁。当B区突破A区时,器件闭锁。 这个原则适用于超负载在开关激活后存在很长时间的状况。

  图7:超负载与功率限制区比较



关键词: ST BCM 熔断器

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