通过先进的校准测试方法降低移动设备的成本
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传统测试与现代测试
在80、90年代，移动设备的功能测试靠的是呼叫测试。测试中呼叫处理所需的时间在总测试时间中占据着很大部分。例如，对于每次呼叫来说，在测试之前CDMA移动设备的注册和呼叫建立就需要30秒以上的时间。
除了基于呼叫的功能测试时间代价外，由于测试设备内部的处理能力的限制，也意味着在校准和功能测试阶段中无法同时进行发射和接收测试。假定接收测试为10秒，而发射测试为4秒，该串行测试也会比并行测试多出40%的时间。
起初，环回比特误差率(BER)测量目的是确定设备接收机功能是否正常。由于BER实质上采用的是统计方法，故需要发出大量的比特并进行测量。对如此多的比特进行测试等效于大量的测试时间，从而增加了额外的测试成本。先进的减少时间的测试策略包括：
* 采用接收/发射并行测试
* 省去功能测试阶段中的呼叫
* 利用新的基于C/N的接收机测量来取代BER测量
* 采用快速校准模式
上述所有策略都要求在移动设备芯片中存在非标准测试模式。芯片中所实现的测试模式效率将实际影响OEM厂商工厂所需的投资。故采用较贵并具有较好校准和测试模式的芯片的产品设计在后续的制造阶段将有效地节省成本。
制造测试流程
在传统手机设备制造过程的开始阶段，进入生产线的是裸板(PCB)，然后机器手将元器件和焊膏放置到电路板上，然后进行回流焊(对于反面重复上述流程)，其后是校准装配好的PCB。在第二阶段，将键盘，显示器，以及其他的模组和元器件安装到PCB上，随后进行最后的测试。有时，在组装好机壳和电池后还有进行语音呼叫测试，以确保在装入用户配件和发运前设备能正常工作。
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