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新闻中心 - 标签：KLA-Tencor
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KLA-TENCOR 推出用于测量等离子室效应的 PLASMAVOLT X2
KLA-TENCOR 推出 PROLITHTM 12 新版计算光刻工具
科天推出磁盘驱动器基片和盘片缺陷检查的新技术
KLA-TENCOR 推出全新控片检测系统 SURFSCAN SP2XP
KLA-TENCOR推出新型 P-6 表面轮廓仪系统
KLA-Tencor推出可解决二次成像挑战的首款计算光刻机
KLA-Tencor 推出第十代电子束侦测系统
突破性的 KLA-Tencor 技术--通过识别可印刷缺陷实现高等级光罩检测
KLA-Tencor 为晶片厂推出光罩检查系统的全新 TeraFab 系列
KLA-Tencor 新推出的 Aleris 8500 薄膜度量系统
KLA-Tencor新推出Aleris 8500薄膜度量系统
KLA-Tencor推出达到关键性45nm晶片几何度量要求的完整度量解决方案
KLA-Tencor发布全新SURFmonitor系统
KLA-Tencor 发布高分辨率表面轮廓测量系统 HRP-350
KLA-Tencor推出新一代电子束缺陷再检查和分类系统
KLA-Tencor推出先进RET/OPC功能的LithoWare产品
KLA-Tencor 推出基于 Linux 的新型产品 LithoWare
KLA-Tencor推出业内首套45纳米光掩膜检测系统TeraScanHR
扩大晶圆检测市场份额 KLA-Tencor收购ADE
KLA-TENCOR推出面向光刻设计检测方案
KLA-TENCOR发布首个明场检测系统
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