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微处理器和JTAG总线桥接接口(06-100)

—— 微处理器和JTAG总线桥接接口
作者:时间:2008-04-10来源:电子产品世界

  数字逻辑设计人员在实现设计目标时有不少工具可用。为适应所需的大量逻辑数和数据率,设计人员可选用在相对小的空间内,以多引脚数封装提供巨大数量的数字逻辑门。

本文引用地址:http://www.eepw.com.cn/article/81431.htm

  在印刷电路板(PCB)放置多个多引脚和其他器件,确保所有互连的完整无损是比较困难的。在制造中用X射线技术可以检验大概的互连问题, 而需要更精确的方法来检测制造、调试和复杂PCB更换的互连问题。

  一种方法是(IEEE1149.1)技术。(联合测试行动组)功能包括基本的输入/输出边界扫描控制(由1149.1规范确定)以及内部资源的重新编程性和控制。数字设计中所用的很多元件都具有性能。可用JTAG提供调试接入。FPGA和CPLD可用JTAG编程。这些JTAG性能为制造、设计和服务人员提供一个强有力的生产高质量板的工具。

  在系统中实现JTAG控制逻辑时,考虑DFT(design-for-test),而这与一般的FPGA设计技术是矛盾的。

  DFT设计考虑包括:

  ·主要的测试/调试能力必须与系统开发每个阶段的FPGA功能无关。

  ·FPGA需要在现场更新测试控制逻辑,并且在重新编程期间应变得不起作用。假若希望系统是“5个9”(99.999%)可用的,则需要另一种FPGA结构。

  ·FPGA通常是JTAG扫描链的部分,而且感兴趣的是FPGA互连的检验。FTAG控制逻辑不能置FPGA进入测试模式,并同时工作在非测试模式。

  一个小的定制非易失性的即时接通可编程逻辑(PLD)能很好的适合系统DFT考虑。这样的一种器件可提供足够的逻辑和足够的I/O组,使其容易调试和接口到JTAG,以便提供测试性、重新可编程性的控制功能性。这使得小的PLD成为板测试无故障的理想元件。

  典型的PCB测试结构

  JTAG的主要用途集成在制造测试。它对开发环境有损害,它主要是处理任务而不是制造级连接性测试。图1示出典型的PCB测试结构。


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关键词: FPGA 微处理器 JTAG

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