5Gbps高速芯片测试技术

前言

近年来，数据的大规模传输要求变得越来越普及。担任这些大量数据处理芯片的标准接口（Interface）基本上都采用的是高速差分串行传输方式。

高速串行数据传送方式有以下的一些特征：

● 数Gbps的传送数率
● 由于是高速传送，信号振幅较小，为数百mV程度
● 小振幅的信号传送时，为了减小噪声的影响，都采用的是差分传送方式
● 对各信号通道间的相位同步没有严格要求

近年来对芯片的高速数据处理的要求，使得许多芯片内部都已经搭载了高速IF的功能。但是，也正是由于它的高速性能造成芯片的测试变得非常的困难。对这类高速IF芯片的初期评价阶段，一般采用的是多种计测器的综合评价。但是针对多管脚的高速IF芯片，单纯利用计测器的测定，会面对许多问题。

T6683+5G Option

为了实现精确的高速差分串行信号测试，我们开发了可以对应最大5Gbps差分信号的ATE用高速测试选件。这次开发的可以提供最大5Gbps的高速专用PE（图1），内藏于ATE系统中，其包括：64个高速输入专用通道+ 64个高速输出专用通道的Dr