首页 > 新闻中心 > 测试测量 > 基础仪器
KLA-Tencor 发布高分辨率表面轮廓测量系统 HRP-350,使测量能力扩展至 45 纳米半导体器件。这个新设备配备半径低至 20 纳米的钻石探针和低噪音......
意法半导体宣布该公司的超小型“低g”线性加速计产品家族增加一个新的解决方案,新产品LIS244AL动作传感器在电路板占据一个面积很小的呈正方形位置,功耗极低,特别适合电池供电的便携应......
美国模拟器件公司的 SRD Design Studio是针对短距装置(short range device)无线连接设计和仿真的软件......
引 言 我国遥测记录设备经历了倍密度磁带机和旋转头磁带机两代产品,目前仍在使用。从记录原理上说他们皆属于模拟记录设备,在长期使用当中,已暴露出诸多缺陷: (1)磁带耗材依赖进口,价......
日前,Aeroflex宣布推出用于模拟系统、TETRA及P25技术的新型3920数字射频综合测试仪。3920具有全新的增强特性,可为专业测试人员提供集成化的更多测试功能,便捷的远程遥......
意法半导体宣布该公司的超小型“低g”线性加速计产品家族增加一个新的解决方案,新产品LIS244AL动作传感器在电路板占据一个面积很小的呈正方形位置,功耗极低,特别适合电池供电的便携应用,如手机、便携多媒体播放器或遥控器。......
意法半导体(STMicroelectronics)日前宣布,为改善成本结构,将在未来2到3年内关闭三家工厂。 据marketwatch网站报道,意法半导体即将关闭的三家工厂分别是:位于美国德州的一座6英寸晶圆......
引 言 现代科技对系统的可靠性提出了更高的要求,而FPGA技术在电子系统中应用已经非常广泛,因此FPGA易测试性就变得很重要。要获得的FPGA内部信号十分有限、FPGA封装和印刷电路板(PCB)电气噪声,这一切使......
KLA-Tencor日前发布业界最先进的高分辨率表面轮廓测量系统 HRP-350,使测量能力扩展至 45 纳米半导体器件。这个新设备配备半径低至 20 纳米的钻石探针和低噪音平台,从而提高了测量灵敏度,并使芯片生产商......
2007年7月11日,泰克与HDMI Licensing LLC和Silicon Image联合举办2007年HDMI设计和验证研讨会。......
43.2%在阅读
23.2%在互动