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TFT-LCD驱动芯片测试平台的设计和实现

作者:刘玉青 邓文基 华南理工大学物理学院微电子系 时间:2008-08-01 来源:中国集成电路 收藏

3 系统软件设计

本文引用地址:https://www.eepw.com.cn/article/86532.htm

  (1)初始化和时序控制

  在硬件系统上电复位后,通过软件根据,Flash,驱动芯片和的特性来初始化。包括设置定义各个接口引脚,设置寄存器的值确定的工作条件,工作模式等。把图片和其他的显示数据通过高速USB接口下载到片内RAM和片外Flash中。之后,根据的时序给显示模组送显示数据。的读写控制时序由图5表示。IC的时序控制信号有RS,CS,WR,RD四个。它们分别是寄存器使能信号,片选信号,写使能信号和读使能信号。另外通过RST控制线来硬件复位。

  (2)写程序

  包括写片内RAM和写片外Flash。较小数据量可以直接写到片内RAM中,片内RAM的优点是数据传送速度快,可以在线调试,缺点是储蓄容量较小。C8051F130的片内RAM是128 kBytes。存储较大容量的图片是需要采用片外Flash。片外的Flash传送速度较慢,储蓄容量较大,采用的AM29LV160内存大小是2 Mbytes。其存储空间分布如表1。把一幅320*240的BMP格式文件转为16位真彩的HEX文件,大小是150 kBytes。一个Flash中可以容纳10幅图片的数据量。C8051F130每次可以处理64 Kbytes以下的数据。为方便计算地址,将每幅图片分成5段,前4段大小是32Kbytes,最后一段大小是22Kbytes。下载一个Flash中所有数据,分10*5次下载。

  从表中看到SA0~SA3的大小和SA4~SA34不同,在写数据时要特别注意地址的分配。

  (3)读程序

  可以从RAM或片外FLASH读取。驱动IC和FLASH之间是采用直接读取方式,FLASH中的数据通过时序控制直接通过Addr0~Addr17送到IC。

4 结束语

  本文针对LCD的调试环境设计一个基于C8051F130的测试平台,全貌图如图6,图7,FLASH在PCB背面。通过多次测试和试用,证明是一个高速,稳定,方便的调试平台。对类似COG调试和测试系统有借鉴意义。


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