电压比较器VIO的开环测试 作者： 时间：2005-05-11 来源： 加入技术交流群 扫码加入和技术大咖面对面交流海量资料库查询 收藏 <a href='https://ad.eepw.com.cn/www/delivery/ck.php?n=a635e61e&cb=INSERT_RANDOM_NUMBER_HERE' target='_blank'><img src='https://ad.eepw.com.cn/www/delivery/avw.php?zoneid=88&cb=INSERT_RANDOM_NUMBER_HERE&n=a635e61e' border='0' alt='' /></a> <a href='https://ad.eepw.com.cn/www/delivery/ck.php?n=a576c0a2&cb=INSERT_RANDOM_NUMBER_HERE' target='_blank'><img src='https://ad.eepw.com.cn/www/delivery/avw.php?zoneid=87&cb=INSERT_RANDOM_NUMBER_HERE&n=a576c0a2' border='0' alt='' /></a> 输入失调电压(VIO)是电压比较器(以下简称比较器)一个重要的电性能参数，GB/T 6798－1996中，将其定义为“使输出电压为规定值时，两输入端间所加的直流补偿电压”。传统测试设备大都采用“被测器件(DUT，Device Under Test)－辅助运放”的测试模式，测试原理图见图1。 在辅助运放A的作用下，整个系统构成稳定的闭环网络，从而使VD=0，则 VC = -VS1
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