效率最好的内存测试电路开发环境

　　4.5 产生并设定 BFL 档案

　　unix% cd integratr/top_down_lab

　　unix% brains --tempgen

　　执行上述指令，并选择第三个选项，即可产生 brains_template.bfl 档案。

　　图4-2. 产生 BFL 档案范例

　　BFL 档案包含BIST 电路相关规格设定。使用者可根据实际project需求，来设定。图4-3及图4-4为一BFL设定范例。使用者亦可在example case中的reference文件夹找到相关范例档案。

　　n set verilog_path : ./run.f

　　n set top_module_name : top

　　n set top_hierarchy : top

　　n set clock_trace : no

　　n set auto_group : yes

　　n set insertion : yes

　　n set integrator_mode : yes

　　n set work_path : ./mbist

　　In define{BIST}:

　　n set bist_interface : ieee1500

　　n set clock_switch_of_memory : yes

　　图4-3. BFL 档案范例 (1)

　　图4-4. BFL 档案范例 (2)

　　4.6 引用BFL档案来执行Brains

　　当BFL档案设定完成时，用户可执行下列指令来运行Brains。图4-5和图4-6为执行过程图。而相关执行结果和输出档，则会输出至mbist文件夹。其中，包含BIST电路design，合成相关script及模拟所需之testbench。

　　unix% cd multi_lab/top_down_lab

　　unix% brains -bfl brains_template.bfl

　　图4-5. Grouping 信息

　　图4-6. BIST Auto Insertion 信息

　　4.7 设定 Memory Info 档案

　　Memory info 档案提供使用者自行规划grouping架构。使用者可根据实际project之需求，规划想要的grouping架构。该档案包含下列信息：

　　n Memory module : Memory module name

　　n Clock domain : Memory clock domain and working period

　　n Group : Brians will group the memories

　　n Diagnosis : To decide if the memory needs the full diagnosis feature

　　n Hierarchy instance : Including hierarchy path and instance name of the memory

　　在example case中也提供一范例档案给用户参考。请参考reference文件夹中的 BRAINS_memory_spec.meminfo 档案。

　　图4-7. Memory Info设定范例

　　4.8 引用Memory Info档案来执行Brains

　　若使用者想引用编写好的memory info档案，则可透过设定BFL档案中的 memory_list 选项来指定该档案路径，并将auto_group 选项设定为no。如图4-8所示。

　　设定完后，同样依据下列指令来执行Brains。

　　unix% cd multi_lab/top_dow_lab

　　unix% brains -bfl brains_template.bfl

　　图4-8. 设定 auto_group 及 memory_list 选项

　　图4-9. Grouping 信息

　　图4-10. BIST Auto Insertion 信息