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效率最好的内存测试电路开发环境

作者:时间:2017-02-14来源:电子产品世界收藏

  1.概述:整合性内存自我测试电路产生环境-

本文引用地址:http://www.eepw.com.cn/article/201702/343955.htm

  是从整体的芯片设计切入,利用硬件架构共享的观念,可以大幅减少测试电路的门数 (Gate Count),并且让使用者能轻易产生优化的BIST电路。可以自动的判读内存并将其分群 (Grouping),从产品设计前端大幅提升测试良率、降低测试成本,提高产业竞争力。Brains的五级到七级的弹性化管线式架构,可以满足快速的需求,目前最高测试的速度已经可以达到1.2GHz,整体BIST电路的门数平均只需200个门数。另外为了简化嵌入电路的复杂度,Brains只需简单步骤即可完成电路的设计与嵌入。Brains的先进功能可以大幅缩减DPPM与降低芯片测试成本进而降低整体芯片成本,增加产品的可靠度以及增加产品的竞争力。

  图1-1. 传统BIST示意图

  图1-2. 传统Memory Testing解决方案

  图1-3. 厚翼科技的BIST示意图

  图1-4. 厚翼科技的解决方案

  2. Brains架构

  Brains是一个内存测试电路整合性开发环境,基本架构图如下:

  图2-1. BRAINS执行架构图

  Brains 输入档:

  RTL Verilog : 包含memory models 的Top HDL design档案

  Memory Modules : Memory models verilog档案

  UDM Files : 用户自定义内存档案

  Brains 输出檔:

  RTL Verilog with BIST : 整入BIST电路的top HDL design档案

  Synthesis Scripts : 合成相关scripts档案

  RTL BIST Verilog : BIST 电路verilog档案

  Fault Memory : 整入error bit之memory models

  Test Bench : 供BIST 电路仿真用之Testbench

  3. 功能描述

  BRAINS有下列功能:

  n 支持RTL和Gate-level格式

  n 透过BFL (Brains Feature List)设定BRAINS的功能

  n 自动进行内存判别

  n 自动产生Testbench

  n 自动嵌入 BIST到原设计

  n 自动追踪 Cock Source

  n 透过UDM (User Defined Memory) 档案支持用户自行定义的内存

  4. 实作流程

  Brains实作支援Top-down Flow和Bottom-up Flow,以下针对Top-down Flow加以介绍。

  Brains BFL Flow – Top-down Flow

  本章节介绍如何透过BFL档案,并搭配Top-down 流程,来产生相对应之BIST电路。本章节提及之example case及相关文件,使用者若有需求,可与厚翼科技联络,进行索取。

  4.1 解压缩 Example Case

  unix% tar xvfz multi_lab.tgz

  unix% cd multi_lab/top_down_lab

  4.2 建立 File-List 档案 (*.f file)

  完整的File-List 档案可让Brains 的执行更加顺利,完整的File-List 档案包含design verilog 档案所使用的memory model 档案,相关的standard cell 和macro档案如下:

  n Design.v (RTL or netlist)

  n Memory.v

  n Standard_cell.v (when your design is netlist)

  n Parameter, e.g. +define+、+incdir+PATH/DIR …

  图4-1为 run.f 档案之范例,用户可依照此格式来产生相对应的File-List 档案。

  图4-1. run.f 档案范例

  4.3 其它输入档案

  n 如果使用者有特殊grouping需求,则可提供相关输入档案。如:*.def档案或*.meminfo 档案。*.def档案可让Brains依据实际memory model 摆放位置来做grouping。*.meminfo 档案则可让Brains依据使用者想要的grouping架构来执行。

  n Memory model library档案:此档案可让Brains依据其中所定义之power数值,来做为grouping的条件。

  4.4 Memory Model 检查功能 (Optional)

  Brains 可帮助使用者识别出design 中所包含的memory model。用户可使用memchecker 指令来检查所使用到的memory models。详细执行流程请参考Brains quick start guide文件,附录A。

  如果design中有memory model无法自动被Brains识别出来时,使用者可自行编写 UDM 档案,该档案用来描述memory models 相关脚位及读写行为。详细定义请参考brains_udm_ug.pdf文件。


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关键词: 内存测试 Brains

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