- 1.概述：整合性内存自我测试电路产生环境-Brains Brains是从整体的芯片设计切入，利用硬件架构共享的观念，可以大幅减少测试电路的门数 (Gate Count)，并且让使用者能轻易产生优化的BIST电路。Brains可以自动的判读内存并将其分群 (Grouping)，从产品设计前端大幅提升测试良率、降低测试成本，提高产业竞争力。Brains的五级到七级的弹性化管线式架构，可以满足快速内存测试的需求，目前最高测试的速度已经可以达到1.2GHz，整体BIST电路的门
- 关键字：
内存测试 Brains
- 2010年9月，英飞凌科技股份公司与19家合作伙伴携手合作，启动了欧洲e-BRAINS（最可靠的环境智能纳米传感器系统）研究项目，围绕异构系统的集成展开研究。这个项目由英飞凌和弗劳恩霍夫模块化固态技术研究所负责技术管理，将于2013年底完成。纳米传感器将与IC（集成电路）、功率半导体、电池或无线通信模块等组件结合使用，从而大幅提升e-BRAINS应用的能源效率、成本效益、使用寿命和运行可靠性。
- 关键字：
英飞凌 e-BRAINS
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